发明名称 电子产品失效分析方法
摘要 一种电子产品失效分析方法,该方法包括如下步骤:从存储装置中获取失效电子产品的失效资讯;根据所获取的失效资讯进行失效复制验证,以验证所获取的失效资讯对应的失效现象能否复制;当所获取的失效资讯对应的失效现象不能复制时,对失效电子产品进行测试以判断所述失效电子产品的失效原因是否属于不能复制问题;当所述失效电子产品不属于不能复制问题时,判断所述失效电子产品是否未出故障。
申请公布号 TWI450088 申请公布日期 2014.08.21
申请号 TW099110652 申请日期 2010.04.06
申请人 鸿海精密工业股份有限公司 新北市土城区自由街2号 发明人 游永兴
分类号 G06F11/22 主分类号 G06F11/22
代理机构 代理人
主权项 一种电子产品失效分析方法,该方法包括如下步骤:从储存装置中获取失效电子产品的失效资讯;根据所获取的失效资讯进行失效复制验证,以验证所获取的失效资讯对应的失效现象能否复制;当所获取的失效资讯对应的失效现象不能复制时,对失效电子产品进行测试以判断所述失效电子产品的失效原因是否属于不能复制问题;当所述失效电子产品不属于不能复制问题时,判断所述失效电子产品是否未出故障;当所述失效电子产品不属于未出故障问题时,判断所述失效电子产品的失效原因是否为客户造成的问题;当所述失效电子产品不属于客户造成的问题时,判断所述失效电子产品的失效原因是否为测试程式问题;当所述失效电子产品不属于测试程式问题时,判断所述失效电子产品的失效原因是否为制造问题;当所述失效电子产品不属于制造问题时,判断所述失效电子产品上的零件是否出现品质问题;当所述失效电子产品上的零件没有品质问题时,对电子产品的电路设计进行分析以得到电路设计的问题,并发出工程变更通知。
地址 新北市土城区自由街2号