| 发明名称 | X射线探测器 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种X射线探测器，所述X射线探测器包括传感器单元(200、300)，其用于探测入射X射线辐射，所述传感器单元(200、300)包括多个传感器元件(230、311-314)、每个传感器元件的计数通道(240)、每个传感器元件的集成通道(250)和处理单元(260)，每个传感器元件的所述计数通道(240)用于通过对自测量间隔开始响应于入射X射线辐射而生成的光子或电荷脉冲进行计数来获得计数信号，每个传感器元件的所述集成通道(250)用于获得表示自测量间隔开始探测到的辐射的总能量的集成信号，所述处理单元(260)用于从传感器元件(321)的集成信号中估计传感器元件(311、312)的计数信号，所述传感器元件(311、312)的计数通道在测量间隔期间已经是饱和的。 | ||
| 申请公布号 | CN103998952A | 申请公布日期 | 2014.08.20 |
| 申请号 | CN201280062943.6 | 申请日期 | 2012.12.06 |
| 申请人 | 皇家飞利浦有限公司 | 发明人 | C·赫尔曼 |
| 分类号 | G01T1/17(2006.01)I;G01T1/24(2006.01)I;G01T1/29(2006.01)I | 主分类号 | G01T1/17(2006.01)I |
| 代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人 | 李光颖;王英 |
| 主权项 | 一种X射线探测器，包括：‑传感器单元(200、300)，其用于探测入射X射线辐射，所述传感器单元包括多个传感器元件(230、311‑314)，‑每个传感器元件的计数通道(240)，其用于通过对自测量间隔的开始响应于所述入射X射线辐射而生成的光子或电荷脉冲进行计数来获得计数信号，‑每个传感器元件的集成通道(250)，其用于获得表示自所述测量间隔的所述开始探测到的辐射的总能量的集成信号，以及‑处理单元(260)，其用于从所述传感器元件(321)的所述集成信号中估计传感器元件(311、312)的计数信号，所述传感器元件(311、312)的计数通道在所述测量间隔期间已经是饱和的。 | ||
| 地址 | 荷兰艾恩德霍芬 | ||