发明名称 一种高温CVD工艺的压差改良方法
摘要 本发明公开了一种高温CVD工艺的压差改良方法,包括以下步骤:提供一工艺室与一连通工艺室的传递室;提供至少一待加工的基片,并将基片通过传递室传递至工艺室;在工艺室内对基片实施沉积工艺,向工艺室中通入惰性气体,使得工艺室内的压力大于传递室内的压力,从而保证异物往传递室流动,减少工艺室的中成膜缺陷,改善良率,而且惰性气体流入到传递室中还可有效冷却工艺室内的设备,防止H/W变型;在工艺室内对所述基片实施蚀刻工艺,向传递室中通入惰性气体,使得传递室内的压力大于工艺室内的压力,从而防止蚀刻气体从工艺室泄漏到传递室,损害和腐蚀传递室内部,同时将蚀刻气体牢牢控制在工艺室内,提高气体使用率,提高蚀刻速率。
申请公布号 CN103993294A 申请公布日期 2014.08.20
申请号 CN201410155323.8 申请日期 2014.04.17
申请人 上海和辉光电有限公司 发明人 孙鲁男;董杭;许嘉哲;严进嵘
分类号 C23C16/455(2006.01)I;C23C16/52(2006.01)I 主分类号 C23C16/455(2006.01)I
代理机构 上海唯源专利代理有限公司 31229 代理人 曾耀先
主权项 一种高温CVD工艺的压差改良方法,其特征在于包括以下步骤:提供一工艺室与一连通所述工艺室的传递室;提供至少一待加工的基片,并将所述基片通过所述传递室传递至所述工艺室;在工艺室内对所述基片实施沉积工艺,向所述工艺室中通入惰性气体,使得工艺室内的压力大于传递室内的压力;在所述工艺室内对所述基片实施蚀刻工艺,向传递室中通入惰性气体,使得传递室内的压力大于工艺室内的压力。
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