一种玉石无损检测样品模型及其制作方法

摘要

本发明公开了一种玉石无损检测样品模型及其制作方法，其样品模型包括玉石模型板，所述玉石模型板上设有光滑平面区、斗型减薄区、凹型减薄区、凹型金膜区、凹型碳膜区、筒状减薄区、透度变化区、光散棱镜区、原料遗留区、切磨遗留区、色彩矢量区、特殊光效区和标示区；其样品模型的制作方法包括以下步骤：A.选料；B.切割；C.抛光；D.雕刻；E.打磨抛光；F.根据检测的结果，完成成分标注区、名称标注区、晶格标示区、色彩矢量区的贴标；G.完成样品模型制作，进行包装。本发明填补了国内外玉石检测与鉴定学教学和研究领域无法在不分割样品、不改变被检样品形态的前提下，快速获得所有规定15项国家标准数据与结论的空白。

主权项

一种玉石无损检测样品模型，其特征在于：包括玉石模型板（18），所述玉石模型板（18）上设有光滑平面区（1）、斗型减薄区（3）、凹型减薄区（4）、凹型金膜区（5）、凹型碳膜区（6）、筒状减薄区（7）、透度变化区（8）、光散棱镜区（9）、原料遗留区（12）、切磨遗留区（14）、色彩矢量区（15）、特殊光效区（16）和标示区,所述光滑平面区（1）用于折射仪测试折射率和双折射率以及利用红外光谱仪和拉曼光谱仪测试成分、结构和吸收光谱；所述斗型减薄区（3）用于拉曼光谱仪在较薄区域分析成分、结构和吸收光谱、利用珠宝显微镜和透射电子显微镜观察晶体特性、解理以及利用二色镜测试多色性；所述凹型减薄区（4）用于拉曼光谱仪在更薄区域分析成分、结构和吸收光谱、利用珠宝显微镜和透射电子显微镜观察晶体特性、解理，与斗型减薄区（3）形成互补；所述凹型金膜区（5）用于扫描电子显微镜测试光性特征和观察晶体显微结构、解理以及利用电子探针显微分析仪测试成分；所述凹型碳膜区（6）用于扫描电子显微镜测试光性特征和观察晶体显微结构、解理以及利用电子探针显微分析仪测试成分，与凹型金膜区（5）形成互补；所述筒状减薄区（7）用于高倍显微镜测试光性特征，观察晶体显微，包括结构晶体性状、生长纹、端口、裂理以及利用二色镜测试多色性；所述透度变化区（8）用于放大镜和珠宝显微镜放大检查，观察晶体结构特征以及光性特征；所述光散棱镜区（9）用于放大摄像仪观察和记录晕彩效应，色散现象，测试色散值和特殊光性；所述原料遗留区（12）用于放大和摄像设备观察记录，观察晶面条纹、双晶纹、色带、生长凹坑、蚀象、溶丘、双晶纹，研究其外部特性；所述切磨遗留区（14）用于放大和摄像设备观察和研究样品的缺口、抛光纹、微缺口、空洞、烧痕、撞击痕、须状腰棱、额外刻面、棱线尖锐或圆滑现象，初步分析判断玉石的相对密度、硬度、解理、裂理外部特征；所述色彩矢量区（15）用于对样品观察光泽和进行色彩矢量化标注，即利用现有行业通行的色彩矢量表，对样品的色彩进行量化分析和和数字化定性标注；所述特殊光效区（16）用于放大镜或宝石显微镜观察星光效应、猫眼效应，晕光效应、金砂效应。