发明名称 用于对光子进行计数的装置和方法
摘要 描述了一种用于对光子进行计数的装置(10,50),具有探测器单元(12),开关单元(30,52),采样单元(36,58),串并转换单元(40)以及评价单元(49,52)。探测器单元(12)生成的探测信号(26)入射在开关单元(30,52)上。采样单元(36,58)对开关单元(30,52)生成的状态信号(32,56)进行采样并生成采样数据串。串并转换单元(40)将串行生成的采样数据组合成采样数据包。评价单元(49,62)以低于采样单元(36,58)的采样频率的预定工作周期运行。评价单元(49,58)在由工作周期定义的每一时钟周期内评价至少一个采样数据包的n位二进制值,从而确定出部分计数结果,并对在单个时钟周期中确定出的部分计数结果求和从而得到指示探测光子数目的总计数结果。
申请公布号 CN102914375B 申请公布日期 2014.08.13
申请号 CN201210270350.0 申请日期 2012.07.31
申请人 徕卡显微系统复合显微镜有限公司 发明人 B·威兹高斯基
分类号 G01J11/00(2006.01)I;G01J1/42(2006.01)I 主分类号 G01J11/00(2006.01)I
代理机构 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 代理人 王勇;王博
主权项 一种用于对光子进行计数的装置(10,50),具有:用于探测光子的探测器单元(12),其产生电的探测信号(26),该探测信号包含有用于每一探测光子的探测脉冲(28);探测信号入射其上的开关单元(30,52),其具有多个开关状态并产生电的状态信号(32,56),该状态信号的状态信号电平与相应的开关状态相关联,其中每一个探测脉冲(28)触发一个开关状态的改变;用于串行地产生采样数据的采样单元(36,58),其以预定的采样频率对状态信号进行采样,在各种情况下,采样数据都具有用于每个状态信号电平的n位二进制值,n≥1;使串行产生的采样数据并行化的串并转换单元(40),其将预定数量的连续的采样数据分组成相应的采样数据包;以预定的工作周期运行的评价单元(49,62),该预定的工作周期低于采样单元(36,58)的采样频率,该评价单元(49,58)在由工作周期定义的每一时钟周期内评价至少一个采样数据包的相应的n位二进制值,从而确定出指示在开关单元中发生的开关状态改变的数目的部分计数结果,并对在单个时钟周期中确定出的部分计数结果求和从而得到指示探测光子数目的总计数结果。
地址 德国韦茨拉尔