发明名称 光栅之制备方法
摘要 本发明提供一种光栅之制备方法,其包括以下步骤:提供一基底,在基底表面形成一图形化的光罩层;将该形成有光罩层的基底放入一反应性电浆系统中,通入蚀刻气体对基底进行蚀刻,蚀刻过程分为三阶段:第一蚀刻阶段,蚀刻气体的成分为四氟化碳及氩气,四氟化碳及氩气同时通入;第二蚀刻阶段,蚀刻气体的成分改变为四氟化碳、六氟化硫及氩气,六氟化硫的体积流量大于四氟化碳的体积流量;第三蚀刻阶段,继续同时通入四氟化碳、六氟化硫及氩气,其中四氟化碳的体积流量大于六氟化硫的体积流量;及去除光罩层,得到一光栅。
申请公布号 TWI448741 申请公布日期 2014.08.11
申请号 TW100139660 申请日期 2011.10.31
申请人 鸿海精密工业股份有限公司 新北市土城区自由街2号 发明人 朱振东;李群庆;张立辉;陈墨;范守善
分类号 G02B5/18 主分类号 G02B5/18
代理机构 代理人
主权项 一种光栅之制备方法,其包括以下步骤:提供一基底,在基底表面形成一图形化的光罩层;将该形成有光罩层的基底放入一反应性电浆系统中,通入蚀刻气体对基底进行蚀刻,蚀刻过程分为三阶段:第一蚀刻阶段,蚀刻气体的成分为四氟化碳及氩气,四氟化碳及氩气同时通入,四氟化碳及氩气的总体积流量为40sccm至120sccm,四氟化碳的体积流量为10sccm至100sccm,氩气的体积流量为1sccm至30sccm;第二蚀刻阶段,蚀刻气体的成分改变为四氟化碳、六氟化硫及氩气,且四氟化碳、六氟化硫及氩气同时通入,其中,蚀刻气体的电浆的总体积流量为40sccm至120sccm,其中,六氟化硫的体积流量大于四氟化碳的体积流量;第三蚀刻阶段,继续同时通入四氟化碳、六氟化硫及氩气,其中四氟化碳的体积流量大于六氟化硫的体积流量,四氟化碳的体积流量为20sccm至80sccm,六氟化硫的体积流量为5sccm至50sccm,氩气的体积流量为5sccm至40sccm;及去除光罩层,得到一光栅。
地址 新北市土城区自由街2号