发明名称 |
偏振光检测系统 |
摘要 |
本发明提供一种偏振光检测系统,其包括一光敏电阻、一电源及一检测装置,所述光敏电阻、电源和检测装置通过导线电连接以形成一电流回路。其中,该光敏电阻包括一第一电极层、一光敏材料层以及一第二电极层,所述第一电极层、光敏材料层和第二电极层层叠设置,构成一三明治结构,所述第一电极层和第二电极层分别设置于所述光敏材料层相对的两个表面上,且分别与所述光敏材料层电接触,所述第一电极层包括一第一碳纳米管薄膜结构。 |
申请公布号 |
CN103968949A |
申请公布日期 |
2014.08.06 |
申请号 |
CN201310042271.9 |
申请日期 |
2013.02.04 |
申请人 |
清华大学;鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 |
发明人 |
刘军库;李关红;李群庆;范守善 |
分类号 |
G01J4/04(2006.01)I |
主分类号 |
G01J4/04(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种偏振光检测系统,其包括一光敏电阻、一电源及一检测装置,所述光敏电阻、电源和检测装置通过导线电连接以形成一电流回路,其特征在于,所述光敏电阻包括一第一电极层、一光敏材料层以及一第二电极层,所述第一电极层、光敏材料层和第二电极层层叠设置,构成一三明治结构,所述第一电极层和第二电极层分别设置于所述光敏材料层相对的两个表面上,且分别与所述光敏材料层电接触,所述第一电极层包括一第一碳纳米管薄膜结构。 |
地址 |
100084 北京市海淀区清华大学清华-富士康纳米科技研究中心401室 |