分层介质的物位测量方法

摘要

本发明涉及一种分层介质的物位测量方法。其中提供了一种测量容器（12）内的物位的方法，所述容器具有第一介质（14）和至少一种在该第一介质上所覆盖的第二介质（16），特别是泡沫层，执行该方法时会发射电磁信号，特别是沿布置在容器（12）内的探针（28）发射电磁信号，并且记录容器（12）内反射的信号的信号曲线（S），其中借助信号曲线（S）确定到第一介质（14）和/或到第二介质（16）的分界面（18、20）的信号渡越时间（t），并由信号渡越时间（t）确定第一介质（14）的物位和/或确定第二介质（16）的物位。在这种情况下，根据自基准位置（t₀）开始积分后所得信号曲线（S）来识别分界面（18、20）。

主权项

一种测量容器（12）内的物位的方法，所述容器具有第一介质（14）和至少一种在所述第一介质上所覆盖的第二介质（16），特别是泡沫层，执行所述方法时会发射电磁信号，特别是沿布置在所述容器（12）内的探针（28）发射电磁信号，并且记录所述容器（12）内反射的信号的信号曲线（S），其中借助信号曲线（S）确定到所述第一介质（14）和/或到所述第二介质（16）的分界面（18、20）的信号渡越时间（t），并由所述信号渡越时间（t）确定所述第一介质（14）的物位和/或确定所述第二介质（16）的物位，其特征在于，根据自基准位置（t₀）开始积分后所得信号曲线（S）来识别所述分界面（18、20）。