发明名称 高速响应光电探测器
摘要 一种高速响应光电探测器,包括多个光电二极管,所述多个光电二极管按一维阵列形式分布,单个光电二极管的轴向与一维阵列的延伸方向垂直,其创新在于:所述光电二极管由P型衬底、N-区和N区组成;所述N-区由在P型衬底内离子注入掺杂形成,所述N区由在N-区内离子注入掺杂形成;所述P型衬底、N-区和N区形成P-i-N结;所述N区的厚度沿光电二极管轴向逐渐变厚且呈阶梯形分布,N区厚度最厚处的表层区域形成收集端;N区范围内的杂质掺杂浓度均一,N区的杂质掺杂浓度高于N-区。本发明的有益技术效果是:可以大幅提高光电探测器的响应速度,保证对高速运动的条形码的清楚识别。
申请公布号 CN103972312A 申请公布日期 2014.08.06
申请号 CN201410220707.3 申请日期 2014.05.23
申请人 中国电子科技集团公司第四十四研究所 发明人 邓光平;刘昌举;李明;祝晓笑;李毅强;任思伟
分类号 H01L31/0352(2006.01)I;H01L31/102(2006.01)I 主分类号 H01L31/0352(2006.01)I
代理机构 重庆辉腾律师事务所 50215 代理人 侯懋琪;侯春乐
主权项 一种高速响应光电探测器,包括多个光电二极管,所述多个光电二极管按一维阵列形式分布,单个光电二极管的轴向与一维阵列的延伸方向垂直,其特征在于:所述光电二极管由P型衬底(1)、N‑区(2)和N区(3)组成;所述N‑区(2)由在P型衬底(1)内离子注入掺杂形成,所述N区(3)由在N‑区(2)内离子注入掺杂形成;所述P型衬底(1)、N‑区(2)和N区(3)形成P‑i‑N结;所述N区(3)的厚度沿光电二极管轴向逐渐变厚且呈阶梯形分布,N区(3)厚度最厚处的表层区域形成收集端;N区(3)范围内的杂质掺杂浓度均一,N区(3)的杂质掺杂浓度高于N‑区(2)。
地址 400060 重庆市南岸区花园路14号电子44所