| 发明名称 | 用于探测覆层的装置和方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种装置和一种方法，用于探测壁部(2)上的覆层(9)，壁部(2)由介质覆盖。根据本发明，传感器(1)集成在壁部(2)中，其中传感器(1)的构件(3)局部加热区域(4)中的介质，并采集围绕该构件(3)的介质的温度。传感器(1)将其信号传输至评估单元(8)，评估单元(8)通过与参考数据比较来确定覆层形成的程度。 | ||
| 申请公布号 | CN102257376B | 申请公布日期 | 2014.08.06 |
| 申请号 | CN200980152820.X | 申请日期 | 2009.12.10 |
| 申请人 | KSB股份公司 | 发明人 | F·博斯巴赫;D·哈内瓦尔德;D-H·赫尔曼;U·施特克;S·乌尔舍尔 |
| 分类号 | G01N17/00(2006.01)I;G01N25/18(2006.01)I | 主分类号 | G01N17/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 严志军;杨国治 |
| 主权项 | 一种用于探测设备单元的壁部(2)上的覆层(9)的装置，所述壁部(2)由介质覆盖，其特征在于，所述装置包括传感器(1)，该传感器(1)集成到所述壁部(2)中、由多个构件组成并且齐平地插入到所述壁部(2)的侧向内表面中，其中所述传感器(1)的构件(3)局部加热围绕所述构件(3)的区域(4)中的所述介质，而所述介质的温度和/或所述构件(3)的温度由所述传感器(1)采集；并且其中所述装置还包括评估单元(8)，所述传感器(1)将其信号传输至评估单元(8)，所述评估单元(8)通过与参考数据比较来确定覆层形成的程度。 | ||
| 地址 | 德国弗兰肯塔尔 | ||