发明名称 一种链式逆变系统链节老化测试方法
摘要 本发明涉及一种链式逆变系统链节老化测试装置及方法,包括两个H桥逆变器、交流电源和DSP控制电路,及采用这种装置测试的方法,采用两个H桥逆变器对拖实现链式逆变系统中链节的老化测试,采用本发明的测试装置及方法可以降低测试成本,提高测试效率。
申请公布号 CN102636760B 申请公布日期 2014.08.06
申请号 CN201210086980.2 申请日期 2012.03.29
申请人 威凡智能电气高科技有限公司 发明人 邹积勇;杨立军;黄秋燕;杨志;薛恒怀;吴新兵
分类号 G01R31/40(2014.01)I 主分类号 G01R31/40(2014.01)I
代理机构 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 代理人 董建林
主权项 一种链式逆变系统链节老化测试的方法,采用两个H桥逆变器对拖实现链式逆变系统中链节的老化测试方法,包括以下步骤:A、DSP控制单元向链节1发出PWM信号,同时检测链节1和链节2的采样电流,链节1的采样电流作为链节2的指令电流,并与链节2的采样电流比较构成闭合控制器,通过DSP控制单元对构成的闭合控制器运算得到链节2的PWM信号,改变链节1的PWM信号占空比,可以实现对拖平台的电流闭合控制;B、链节1和链节2的DC电压调节由DSP控制单元实现,DSP控制单元控制交流电源进入链节1和链节2的有功分量,DSP控制单元通过控制有功分量的大小实现DC电压调节,DSP控制单元通过光纤通讯得到采样链节1和链节2的DC电压值Vdc1与Vdc2,通过菜单设置给定链节1与链节2的DC电压值Vdc1*与Vdc2*,由Vdc1与Vdc1*构成闭合控制器G(x1),由Vdc2与Vdc2*构成闭合控制器G(x2),通过DSP控制单元分别对构成的闭合控制器G(x1)与G(x2)运算得到链节1有功调节量的PWM信号与链节2 有功调节量的PWM信号;C、DSP控制电路驱动链节1中IGBT的PWM信号,步骤A中的DSP控制单元的输入端接电网电压检测信号,DSP控制电路的输入端接交流电源检测信号,通过数字锁相环对交流电源相位进行锁相,用锁相角输出与交流电源电压同相位的PWM调制基波信号,所述PWM调制基波信号与步骤B运算所得的链节1有功调节量的PWM信号进行运算后得到驱动链节1的IGBT的PWM信号;D、DSP控制电路驱动链节2中IGBT的PWM信号,电流传感器1和电流传感器2的输出端接入DSP控制电路的输入端,构成闭环调节器,由闭环调节器产生PWM驱动信号,所述PWM驱动信号与步骤B运算所得的链节2 有功调节量的PWM信号进行运算后得到驱动链节2的IGBT的PWM信号;E、DSP控制电路实现DC电压稳定,DC母线电压的稳定值为DC电压给定值,DC电压的给定值和DC电压反馈值接入控制策略算法的输入端,通过闭环调节器控制DC电压稳定,所述闭环调节器由DC电压的给定值和DC电压反馈值构成。
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