发明名称 | 测量装置与测量方法 | ||
摘要 | 为了提供了一种利用时间分解测量能够高灵敏度地测量分子振动的弛豫时间的测量装置和测量方法。这个测量装置设置具有:光源单元,用于发出脉冲激光,该脉冲激光用作用于激发测量样品中的预定分子振动的泵浦光和斯托克斯光以及与泵浦光或斯托克斯光具有相同波长的探测光,通过预定的参考频率调制该探测光的强度;脉冲控制单元,用于产生由所述光源单元所生成的探测光的时间延迟,并且在其上将泵浦光、斯托克斯光和时间延迟的探测光引导至测量样品;以及检测单元,用于检测透过测量样品的透射光或来自测量样品的反射光。利用测量样品的时间分解受激拉曼增益光谱或时间分解受激拉曼损耗光谱来测量测量样品中的分子振动的弛豫时间。 | ||
申请公布号 | CN103959045A | 申请公布日期 | 2014.07.30 |
申请号 | CN201280058941.X | 申请日期 | 2012.10.29 |
申请人 | 索尼公司 | 发明人 | 玉田作哉 |
分类号 | G01N21/65(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/65(2006.01)I |
代理机构 | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人 | 余刚;吴孟秋 |
主权项 | 一种测量装置,包括:光源单元,被配置为发出脉冲激光,所述脉冲激光被用作激发测量样品的预定的分子振动的泵浦光和斯托克斯光、以及用作利用预定的参考频率进行强度调制并与所述泵浦光或所述斯托克斯光具有相同波长的探测光;脉冲控制单元,被配置为产生由所述光源单元所生成的所述探测光的时间延迟,并且接着将所述泵浦光、所述斯托克斯光和时间延迟的所述探测光引导至所述测量样品;以及检测单元,被配置为检测透过所述测量样品的透射光或来自所述测量样品的反射光,其中,利用所述测量样品的时间分解受激拉曼增益光谱测量或时间分解受激拉曼损耗光谱测量来测量所述测量样品的所述分子振动的弛豫时间。 | ||
地址 | 日本东京 |