发明名称 漏晶检测装置
摘要 本实用新型属于半导体芯片封装设备领域,具体涉及一种自动粘片机的漏晶检测装置,其中的光敏传感器固定安装在吸嘴的上方,反光平面镜设置在吸嘴从拾取到粘贴芯片的运动路径下方,漏晶检测灯的光束通过光纤投射到反光平面镜上,光纤的固定端对准漏晶检测灯,光纤的活动端对准反光平面镜。本实用新型解决了漏晶检测装置存在的检测灵敏度不高,漏晶检测灯的安装和调整不够方便的问题,具有结构简单、检测灵敏度高、易于调整、工作可靠、成本低的优点。
申请公布号 CN203746805U 申请公布日期 2014.07.30
申请号 CN201420063264.7 申请日期 2014.02.12
申请人 佛山市蓝箭电子股份有限公司 发明人 姚剑锋;徐周;肖峰;周名旷
分类号 H01L21/67(2006.01)I 主分类号 H01L21/67(2006.01)I
代理机构 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 代理人 艾持平
主权项 一种漏晶检测装置,包括光敏传感器、漏晶检测灯,光敏传感器固定安装在吸嘴的上方,其特征是,还包括反光平面镜和光纤,所述反光平面镜设置在吸嘴从拾取到粘贴芯片的运动路径下方,所述漏晶检测灯的光束通过所述光纤投射到反光平面镜上。 
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