发明名称 X射线装置、X射线照射方法及构造物的制造方法
摘要 本发明是有关于一种可以抑制检测精度降低的X射线装置。该装置对物体照射X射线,并对穿透物体的X射线进行检测。该X射线装置设有射出X射线的X射线源;设有保持物体的载台;设有检测装置对从X射线源射出、并穿透物体的X射线其至少一部分进行检测;设有形成内部空间的腔室部件,其内部可配置X射线源、载台、及检测装置;设有隔离部,将内部空间分隔为可配置X射线源的第一空间,和可配置检测装置的第二空间。
申请公布号 CN103959048A 申请公布日期 2014.07.30
申请号 CN201280056289.8 申请日期 2012.10.03
申请人 株式会社尼康 发明人 渡部贵志
分类号 G01N23/04(2006.01)I 主分类号 G01N23/04(2006.01)I
代理机构 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 代理人 寿宁
主权项 一种X射线装置,对物体照射X射线,并对穿透上述物体的X射线进行检测,其特征在于包括:设有射出X射线的X射线源,保持上述物体的载台;,用以从上述X射线源射出、对穿透上述物体的上述X射线的至少一部分进行检测的检测装置;用以形成上述X射线源、上述载台、及上述检测装置所配置的内部空间的腔室部件;将上述内部空间隔离为可配置上述X射线源的第一空间,和可配置上述检测器的第二空间的隔离部。
地址 日本东京都千代田区有乐町一丁目12番1号