发明名称 |
用于真空低温条件下的超大面源黑体校准系统 |
摘要 |
本发明公开了一种用于真空低温条件下的超大面源黑体校准系统。本系统包括转接接口、折转光学系统、成像镜组、调焦镜组、红外面阵探测器、信号处理单元;待测面源黑体与所述折转光学系统位于同一真空舱内,所述成像镜组通过所述转接接口与所述真空舱连接;所述折转光学系统位于待测面源黑体之前,用于将待测面源黑体的红外光线反射入所述成像镜组输入端口,所述成像镜组输出光线经所述调焦镜组输入所述红外面阵探测器,其输出端经AD信号卡与所述信号处理单元连接。本发明能够实现真空低温条件下超大面源黑体校准的系统,填补了此项技术空白。 |
申请公布号 |
CN103940519A |
申请公布日期 |
2014.07.23 |
申请号 |
CN201410174852.2 |
申请日期 |
2014.04.28 |
申请人 |
北京振兴计量测试研究所 |
发明人 |
张玉国;魏建强;孙红胜;杨旺林;刘亚平 |
分类号 |
G01J5/52(2006.01)I |
主分类号 |
G01J5/52(2006.01)I |
代理机构 |
北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙) 11200 |
代理人 |
余长江 |
主权项 |
一种用于真空低温条件下的超大面源黑体校准系统,其特征在于包括转接接口、折转光学系统、成像镜组、调焦镜组、红外面阵探测器、信号处理单元;待测面源黑体与所述折转光学系统位于同一真空舱内,所述成像镜组通过所述转接接口与所述真空舱连接;所述折转光学系统位于待测面源黑体之前,用于将待测面源黑体的红外光线反射入所述成像镜组输入端口,所述成像镜组输出光线经所述调焦镜组输入所述红外面阵探测器,其输出端经AD信号卡与所述信号处理单元连接。 |
地址 |
100074 北京市丰台区7200信箱21分箱 |