发明名称 用于真空低温条件下的超大面源黑体校准系统
摘要 本发明公开了一种用于真空低温条件下的超大面源黑体校准系统。本系统包括转接接口、折转光学系统、成像镜组、调焦镜组、红外面阵探测器、信号处理单元;待测面源黑体与所述折转光学系统位于同一真空舱内,所述成像镜组通过所述转接接口与所述真空舱连接;所述折转光学系统位于待测面源黑体之前,用于将待测面源黑体的红外光线反射入所述成像镜组输入端口,所述成像镜组输出光线经所述调焦镜组输入所述红外面阵探测器,其输出端经AD信号卡与所述信号处理单元连接。本发明能够实现真空低温条件下超大面源黑体校准的系统,填补了此项技术空白。
申请公布号 CN103940519A 申请公布日期 2014.07.23
申请号 CN201410174852.2 申请日期 2014.04.28
申请人 北京振兴计量测试研究所 发明人 张玉国;魏建强;孙红胜;杨旺林;刘亚平
分类号 G01J5/52(2006.01)I 主分类号 G01J5/52(2006.01)I
代理机构 北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙) 11200 代理人 余长江
主权项 一种用于真空低温条件下的超大面源黑体校准系统,其特征在于包括转接接口、折转光学系统、成像镜组、调焦镜组、红外面阵探测器、信号处理单元;待测面源黑体与所述折转光学系统位于同一真空舱内,所述成像镜组通过所述转接接口与所述真空舱连接;所述折转光学系统位于待测面源黑体之前,用于将待测面源黑体的红外光线反射入所述成像镜组输入端口,所述成像镜组输出光线经所述调焦镜组输入所述红外面阵探测器,其输出端经AD信号卡与所述信号处理单元连接。
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