发明名称 半导体装置之制造方法
摘要 根据本发明之实施形态,于半导体装置之制造方法中,于支撑基板上形成抑制光之透过之第1树脂层,且于第1树脂层上形成包含热可塑性树脂之第2树脂层。于第2树脂层上形成绝缘层及配线层,且于配线层上安装第1半导体晶片。对第1树脂层照射雷射光以剥离支撑基板而去除第2树脂层。
申请公布号 TWI446465 申请公布日期 2014.07.21
申请号 TW100131342 申请日期 2011.08.31
申请人 东芝股份有限公司 日本 发明人 本间庄一;加本拓;高野勇佑;三浦正幸
分类号 H01L21/56 主分类号 H01L21/56
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项 一种半导体装置之制造方法,其包括:于支撑基板上形成第1树脂层,该第1树脂层含有透过阻碍材料与合成树脂;于上述第1树脂层上形成包含热可塑性树脂之第2树脂层;于上述第2树脂层上形成绝缘层及配线层;于上述配线层上安装第1半导体晶片;从形成上述第2树脂层侧之相对侧对上述第1树脂层照射雷射光而从上述第2树脂层剥离上述第1树脂层;及去除上述第2树脂层。
地址 日本