| 摘要 |
Gerät zur Absolut-Entfernungsmessung, das aufweist: eine erste durchstimmbare Lichtquelle, die ausgelegt ist, ein Licht erster Wellenlänge einer ersten durchstimmbaren Frequenz moduliert durch eine erste Modulationsfrequenz zu emittieren; eine zweite Lichtquelle, die ausgelegt ist, ein Licht zweiter Wellenlänge einer zweiten Frequenz moduliert durch eine zweite Modulationsfrequenz zu emittieren; einen optischen Koppler, der ausgelegt ist, das Licht erster Wellenlänge und das Licht zweiter Wellenlänge in eine Interferometerkavität einzukoppeln; einen Interferometer-Detektor, der mit der Interferometerkavität gekoppelt ist und ausgelegt ist, ein Interferenzmesssignal basierend auf Interferometerlicht erster und zweiter Wellenlänge bereitzustellen; eine Demodulatoreinheit, die ausgelegt ist, ein erstes Demodulationssignal basierend auf dem Interferenzmesssignal durch Demodulation mit der ersten Modulationsfrequenz und ein zweites Demodulationssignal basierend auf dem Interferenzmesssignal durch Demodulation mit der zweiten Modulationsfrequenz zu erzeugen; und eine Recheneinheit, die ausgelegt ist, eine Absolut-Entfernung durch Auswerten des während eines Durchlaufs der ersten durchstimmbaren Frequenz erhaltenen ersten Demodulationssignals und des zweiten Demodulationssignals zu berechnen. |
