实作随机逻辑功能的基于半导体的测试装置

摘要

一种基于半导体的测试装置包含复数个测试丛集及耦接至该等该测试丛集的假随机总体刺激来源。各个测试丛集均包含复数个资料暂存器及逻辑元件，该逻辑元件是组构以实施用来产生用于该复数个资料暂存器的测试资料的随机逻辑功能。该假随机总体刺激来源产生用于该逻辑元件的假随机二位元刺激。至少一些该复数个测试丛集是耦接在一起，以支援资料暂存器输出的丛集间扇出扇入。

主权项

一种基于半导体的测试装置，包含：复数个测试丛集，各个该复数个测试丛集包含：复数个资料暂存器；以及逻辑元件，组构以实施用来产生用于该复数个资料暂存器的测试资料的随机逻辑功能；以及假随机总体刺激来源，耦接至该复数个测试丛集，并且组构以产生用于该逻辑元件的假随机二位元刺激；其中至少一些该复数个测试丛集是耦接在一起以支援资料暂存器输出的丛集间扇出扇入。