用于测试膜封装的探测卡

摘要

本发明提供了一种用于测试膜封装的探测卡。用于测试膜封装的该探测卡包括主体块和膜探针。该主体块安装在印刷电路板(PCB)上。该膜探针安装在主体块上，该膜探针上形成具有与膜封装的输出引线键合(OLB)焊垫相同节距的引线。膜探针的引线与膜封装的相应OLB焊垫接触且测试膜封装。

主权项

一种用于测试膜封装的探测卡，该探测卡包括：PCB；和主体块，其安装在PCB上，该主体块包括膜探针，在该膜探针上形成与被测试膜封装的OLB焊垫直接接触的引线，该膜探针自主体块的底部连接到形成在PCB的顶部上的电路图形，其中该膜探针采用与被测试膜封装的膜相同的膜，其中该主体块的底部向下倾斜，其中插入有缓冲块的插入沟槽形成在该主体块的端部上，该端部与被测试膜封装接触，其中按压该缓冲块且将其插入到该插入沟槽，并且其末端自该插入沟槽向外突出。