| 发明名称 | 增大谱测定设备的有用动态范围的方法和系统 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种增大离子迁移率谱测定（IMS）和IMS-质谱测定（IMS-MS）设备的有用动态范围的方法。该方法包括在第一时间间隔上累积离子的第一样本；将离子的第一样本提供给离子检测器以提供第一帧；在第二时间间隔上累积离子的第二样本，其中第二时间间隔不同于第一时间间隔；以及将离子的第二样本提供给离子检测器以提供第二帧。有选择地将第一帧的第一数据点与第二帧的第二数据点组合以提供离子的第一和第二样本的累积帧。 | ||
| 申请公布号 | CN103915312A | 申请公布日期 | 2014.07.09 |
| 申请号 | CN201310628362.0 | 申请日期 | 2013.11.29 |
| 申请人 | 安捷伦科技有限公司 | 发明人 | A.莫德海;E.达兰 |
| 分类号 | H01J49/00(2006.01)I;H01J49/40(2006.01)I | 主分类号 | H01J49/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 封新琴 |
| 主权项 | 一种增大离子迁移率谱测定（IMS）设备的有用动态范围的方法，该方法包括：在第一时间间隔上累积离子的第一样本；将离子的第一样本提供给离子检测器以提供第一帧；在第二时间间隔上累积离子的第二样本，其中第二时间间隔不同于第一时间间隔；将离子的第二样本提供给离子检测器以提供第二帧；以及有选择地将第一帧的第一数据点与第二帧的第二数据点组合以提供离子的第一和第二样本的累积帧。 | ||
| 地址 | 美国加利福尼亚州 | ||