发明名称 | 涡流检测探头 | ||
摘要 | 本发明涉及无损检测领域,尤其涉及一种用于检测材质为40Cr的回转支承淬透层的涡流检测探头,包括绕组单元(2)和封装绕组单元的外壳(3);所述绕组单元(2)包括磁芯(2-1),绕在磁芯(2-1)上检测线圈(2-2)和绕在检测线圈(2-2)上的激励线圈(2-3);所述外壳(3)的上部设有通孔(4),下部设有空腔(5);所述绕组单元(2)被封装在所述空腔(5)内;所述激励线圈(2-3)由直径为0.14~0.16mm的漆包铜线绕制445~450匝形成;检测线圈(2-2)由直径为0.05~0.07mm的漆包铜线绕制1400~1500匝形成。采用上述技术方案后,克服了涡流检测探头对材质为40Cr的回转支承表面淬火层识别不敏感,容易漏检的技术问题。 | ||
申请公布号 | CN102645157B | 申请公布日期 | 2014.07.09 |
申请号 | CN201210134755.1 | 申请日期 | 2012.05.03 |
申请人 | 常州机电职业技术学院 | 发明人 | 金佳琳;虞文武;林俊明 |
分类号 | G01B7/26(2006.01)I | 主分类号 | G01B7/26(2006.01)I |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | 一种涡流检测探头,包括绕组单元(2)和封装绕组单元(2)的外壳(3);所述绕组单元(2)包括磁芯(21),绕在磁芯(21)上的检测线圈(22)和绕在检测线圈(22)上的激励线圈(23);所述外壳(3)的上部设有通孔(4),所述外壳(3)的下部设有空腔(5);所述绕组单元(2)被封装在所述空腔(5)内;其特征在于:所述涡流检测探头适于检测材质为40Cr的回转支承淬透层,所述激励线圈(23)由直径为0.14~0.16mm的漆包铜线绕制445~450匝形成;检测线圈(22)由直径为0.05~0.07mm的漆包铜线绕制1400~1500匝形成。 | ||
地址 | 213164 江苏省常州市鸣新东路6号 |