发明名称 基于X射线几何投影莫尔条纹的精密位移测量装置及方法
摘要 本发明公开了一种基于X射线几何投影莫尔条纹的精密位移测量装置,该装置包括:同步辐射加速器,用于产生平行同步X射线光;双晶单色器将X射线光转换为单一波长、高准直的平行X射线;X射线垂直照射顺序平行放置的指示光栅和标尺光栅,以产生莫尔条纹;标尺光栅与运动部件连接在一起;X射线探测器,用于探测莫尔条纹并输出相应的电信号;条纹细分和显示装置,用于对X射线探测器输出的电信号进行条纹细分和显示处理。本发明还公开了一种基于X射线几何投影莫尔条纹的精密位移测量方法。本发明能够提高现有光栅莫尔条纹位移测量技术的分辨率和灵敏度,增加两块光栅之间的距离,降低光栅安装过程中的难度,提高系统使用的稳定性和可靠性。
申请公布号 CN103900502A 申请公布日期 2014.07.02
申请号 CN201410153744.7 申请日期 2014.04.16
申请人 中国科学技术大学 发明人 吴自玉;王圣浩;王志立;高昆;韩华杰;张灿;杨蒙
分类号 G01B15/00(2006.01)I 主分类号 G01B15/00(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 宋焰琴
主权项 一种基于X射线几何投影莫尔条纹的精密位移测量装置,其特征在于,该装置包括:同步辐射加速器(1)、双晶单色器(2)、指示光栅(3)、标尺光栅(4)、X射线探测器(5)和条纹细分和显示装置(6),其中:所述同步辐射加速器(1)用于产生平行同步X射线光;所述双晶单色器(2)用于将所述同步辐射加速器(1)产生的平行同步X射线光转换为单一波长、高准直的平行X射线;所述平行X射线垂直照射顺序平行放置的指示光栅(3)和标尺光栅(4),以产生莫尔条纹;其中,所述指示光栅(3)用于对X射线进行振幅调制;所述标尺光栅(4)用于对穿过指示光栅(3)的X射线进行振幅调制;所述标尺光栅(4)与运动部件连接在一起,所述运动部件的运动方向与所述标尺光栅(4)的刻线方向近似垂直;所述X射线探测器(5)置于所述标尺光栅(4)之后,用于探测所述莫尔条纹,并输出相应的电信号;所述条纹细分和显示装置(6)置于所述X射线探测器(5)之后,用于对所述X射线探测器(5)输出的电信号进行条纹细分和显示处理,以进行数显控制。
地址 230026 安徽省合肥市包河区金寨路96号