主权项 |
1.一种基于超声相控阵技术的锻件典型缺陷识别方法,其特征在于:具体识别步骤如下:步骤一:超声相控阵系统参数设置;相控阵系统中超声波激励/接收模块频率设置,频率设置由使用的传感器频率确定,对于锻件检测使用中心频率为5MHz的传感器。时基范围设置,时基范围长度要求A扫波形能够显示出完整的底波图形;超声波信号波速设置,波速由待测试件的自身材料属性决定,由公式1确定。<maths num="0001"><![CDATA[<math><mrow><mi>v</mi><mo>=</mo><mfrac><mrow><mn>2</mn><mi>L</mi></mrow><mi>t</mi></mfrac><mo>-</mo><mo>-</mo><mo>-</mo><mrow><mo>(</mo><mn>1</mn><mo>)</mo></mrow></mrow></math>]]></maths>式中,L为待测试件长度;t为超声波在待测试件内传播的时间;v为超声波在检测试件内的传播速度;相控阵系统中采集模块进行扇扫图形角度范围设置,角度范围要求能够完整的显示出缺陷的轮廓,设置为-40°到40°;步骤二:实施检测;首先确定检测表面,使用传感器进行粗略扫查确定缺陷位置;粗略扫查指对整个检测表面进行检测,确定可能存在缺陷的位置;再使用传感器进行精检测,精检测指把探头固定在检测位置,不移动,相控阵采集模块采集检测到的A扫波形和扇扫图;步骤三:信号频谱分析;定义采集到的A扫波形数据为x(t),由x(t)傅里叶变换得到频谱信号X(f)。傅里叶变化如公式2所示。<maths num="0002"><![CDATA[<math><mrow><mi>X</mi><mrow><mo>(</mo><mi>f</mi><mo>)</mo></mrow><mo>=</mo><msubsup><mo>∫</mo><mrow><mo>-</mo><mo>∞</mo></mrow><mo>∞</mo></msubsup><mi>x</mi><mrow><mo>(</mo><mi>t</mi><mo>)</mo></mrow><msup><mi>e</mi><mrow><mo>-</mo><mi>j</mi><mn>2</mn><mi>πft</mi></mrow></msup><mi>dt</mi><mo>-</mo><mo>-</mo><mo>-</mo><mrow><mo>(</mo><mn>2</mn><mo>)</mo></mrow></mrow></math>]]></maths>式中,x(t)为采集的原始信号;X(f)为频谱信号;f为原始信号频率;-j为复数虚部。提取缺陷回波频谱信号,进行归一化处理,归一化处理指把数据幅值按百分比缩小到(0,1)范围内;步骤四:确定缺陷类型;(1)确定缺陷回波形状;裂纹类缺陷回波波形呈单峰状;疏松类缺陷回波呈草丛状;(2)分析缺陷回波频谱图。裂纹类缺陷频谱波形如“凹”字形,且中心频率的幅值符合公式3。<maths num="0003"><![CDATA[<math><mrow><mi>L</mi><mo><</mo><mfrac><mrow><mi>H</mi><mn>1</mn><mo>+</mo><mi>H</mi><mn>2</mn></mrow><mn>2</mn></mfrac><mo>-</mo><mo>-</mo><mo>-</mo><mrow><mo>(</mo><mn>3</mn><mo>)</mo></mrow></mrow></math>]]></maths>式中,L为中心频率的幅值;H1为0到中心频率内幅值最大值;H2为中心频率到2倍中心频率范围内的幅值最大值;疏松类缺陷频谱图波形如“锯齿”状,0到2倍中心频率范围内,每个频率间隔(1MHz)至少存在一个波峰,如公式4所述;<maths num="0004"><![CDATA[<math><mrow><mfrac><mi>N</mi><mrow><mn>2</mn><mi>f</mi></mrow></mfrac><mo>≥</mo><mn>1</mn><mo>-</mo><mo>-</mo><mo>-</mo><mrow><mo>(</mo><mn>4</mn><mo>)</mo></mrow></mrow></math>]]></maths>式中,N为波峰个数;f为中心频率;(3)确定扇扫图形种类;裂纹类缺陷图形面积呈条形分布;疏松类缺陷图形面积呈点状分布;裂纹类缺陷特征综述为:A扫缺陷波形呈单峰形状;缺陷频谱图形如“凹”字形且中心频率幅值符合公式3;扇扫图形缺陷面积分布呈条形;疏松类缺陷特征综述为:A扫缺陷波形呈草丛形状;缺陷频谱图形如“锯齿”状,0到2倍中心频率范围内,每个频率间隔(1MHz)至少存在一个波峰;扇扫图形缺陷面积分布呈点状分布;步骤五:解剖验证缺陷类型已知探头的检测位置进行画线标记,使用线切割技术对待测试件进行解剖,对解剖的缺陷位置进行低倍分析,验证缺陷类型。 |