| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung (1) zur Erzeugung einer Prüfspannung für die Prüfung eines Prüflings (2) umfassend zwei Hochspannungsquellen (3, 4) zur Erzeugung einer positiven und einer negativen Hochspannung variabler Amplitude an ihren jeweiligen Ausgängen (5, 6) und eine zwischen den Ausgängen (5, 6) der zwei Hochspannungsquellen (3, 4) und dem Prüfling (2) angeordnete Hochspannungsschalteranordnung (7), die zur sukzessiven Auf- und Entladung des Prüflings (2) geeignet schaltbar ist, wobei ferner eine Regelung (8) vorgesehen ist, die die aktuelle Prüfspannung am Prüfling (2) misst und abhängig von der gemessenen Prüfspannung zur definierten Auf- und Entladung des Prüflings (2) auf die Hochspannungsschalteranordnung (7) einwirkt. Im Rahmen der Erfindung ist vorgesehen, dass die Regelung (8) nicht auf die beiden Hochspannungsquellen (3, 4) einwirkt und dass eine separate Steuerung (14) für die beiden Hochspannungsquellen (3, 4) vorgesehen ist, wobei die Steuerung (14) ein von der Spannung am Prüfling (2) unabhängiges Taktsignal (T) erzeugt, so dass von den Hochspannungsquellen (3, 4) eine synchronisierte, vordefinierte und nicht durch die Regelung (8) beeinflusste Hochspannung (U1, U2) bereitgestellt wird.</p> |
