发明名称 | 检测系统及检测方法 | ||
摘要 | 本发明关于一种检测系统及检测方法,用以批次测试多个待测元件,该检测系统包括一输送部、至少一承载盘、至少一测试装置、及一分配机构。其中,分配机构将所述待测元件,预先分配到该至少一承载盘中,载满所述待测元件的承载盘可沿输送部被运载至该至少一测试装置,并整体进行批次测试。本发明可依据分配机构的产能,配置适当数量的测试装置,以减少闲置、提升测试效能及降低成本。 | ||
申请公布号 | CN102194526B | 申请公布日期 | 2014.06.25 |
申请号 | CN201010115714.9 | 申请日期 | 2010.03.02 |
申请人 | 复格企业股份有限公司 | 发明人 | 林景洋 |
分类号 | G11C29/00(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/00(2006.01)I |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 魏晓刚 |
主权项 | 一种检测系统,用以批次检测多个待测元件,该检测系统包括:一输送部,具有一进口区、一出口区、及位于该进口区与该出口区之间的一检测区;至少一承载盘,可自该进口区被输送至该检测区,以及自该检测区被输送至该出口区,其中,该至少一承载盘包括多个承载座,用以容置该待测元件;多个测试装置,邻设于该检测区并模块化地沿该输送部设置,用以接受该至少一承载盘,并对该至少一承载盘上的该待测元件进行检测;及一分配机构,用以将该待测元件,预先置放到该至少一承载盘的该承载座中;其中该多个测试装置包括一第一移转机构,用以自该输送部抓取该至少一承载盘,以及将该至少一承载盘释放回该输送部。 | ||
地址 | 中国台湾台北市中山区中山北路2段112号9楼之4 |