| 发明名称 | 一种去除X射线影像滤线栅条纹的方法及系统 | ||
| 摘要 | 本发明涉及图像处理技术领域，尤其涉及一种去除X射线影像滤线栅条纹的方法及系统。所述方法包括如下步骤：步骤S1：生成窗函数图像；步骤S2：将所述窗函数图像与所述原图像相乘，生成加窗图像；步骤S3：获取所述加窗图像的频谱；步骤S4：获取所述频谱图像的幅值图像，并对所述幅值图像进行二值化处理，获得二值图像；步骤S5：检测所述二值图像的最大连通区域，并将该最大连通区域中各像素值置零；步骤S6：将所述幅值图像与经所述步骤S5处理后的二值图像相乘，并检测相乘后的幅值图像的峰值，该峰值所在坐标位置即为滤线栅条纹的频率位置；步骤S7：根据所述滤线栅条纹的频率位置去除所述条纹。 | ||
| 申请公布号 | CN103886552A | 申请公布日期 | 2014.06.25 |
| 申请号 | CN201410062484.2 | 申请日期 | 2014.02.24 |
| 申请人 | 深圳市安健科技有限公司 | 发明人 | 孙凯;李学军;杜静;陈娴 |
| 分类号 | G06T5/00(2006.01)I;G06T5/50(2006.01)I | 主分类号 | G06T5/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙) 44312 | 代理人 | 陈健 |
| 主权项 | 一种去除X射线影像滤线栅条纹的方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤S1：生成窗函数图像；步骤S2：将所述窗函数图像与所述原图像相乘，生成加窗图像；步骤S3：获取所述加窗图像的频谱；步骤S4：获取所述频谱图像的幅值图像，并对所述幅值图像进行二值化处理，获得二值图像；步骤S5：检测所述二值图像的最大连通区域，并将该最大连通区域中各像素值置零；步骤S6：将所述幅值图像与经所述步骤S5处理后的二值图像相乘，并检测相乘后的幅值图像的峰值，该峰值所在坐标位置即为滤线栅条纹的频率位置；步骤S7：根据所述滤线栅条纹的频率位置去除所述条纹。 | ||
| 地址 | 518000 广东省深圳市南山区朗山路16号华瀚科技3A | ||