发明名称 空间电子设备加速寿命试验中温度加速基准应力确定方法
摘要 本发明为一种空间电子设备加速寿命试验中温度加速基准应力确定方法,属于电子产品技术领域。首先针对工作环境温度的周期性变化,将环境温度进行等步阶分割,再分别计算每个台阶温度下的对应时间段的可靠度;然后计算一个周期和整个寿命末期的可靠度,最后给出改进的可靠度指数计算公式;当选择工作环境温度作为加速应力即通过提高工作环境温度进行空间电子设备的加速寿命试验时,应采用改进的可靠度指数计算公式,在可靠性不变的前提下将周期性变化工作环境温度等效变换为恒定型工作环境温度,从而确定基准应力。本发明解决了通过提高工作环境温度进行空间电子设备的加速寿命试验时,如何准确确定温度加速基准应力这一技术问题。
申请公布号 CN102520279B 申请公布日期 2014.06.25
申请号 CN201110403814.6 申请日期 2011.12.07
申请人 中国航天科技集团公司第五研究院第五一〇研究所 发明人 刘华罡;王卫国;王少宁
分类号 G01R31/00(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 北京理工大学专利中心 11120 代理人 杨志兵;李爱英
主权项 1.空间电子设备加速寿命试验中温度加速基准应力确定方法,其特征在于:首先针对工作环境温度的周期性变化,将环境温度进行等步阶分割,再分别计算每个台阶温度下的对应时间段的可靠度;然后计算一个周期和整个寿命末期的可靠度,最后给出改进的可靠度指数计算公式;当选择工作环境温度作为加速应力即通过提高工作环境温度进行空间电子设备的加速寿命试验时,应采用改进的可靠度指数计算公式,在可靠性不变的前提下将周期性变化工作环境温度等效变换为恒定型工作环境温度,从而确定基准应力;其中,所述的工作环境温度分为恒定型、三角波型、组合型;恒定型工作环境温度下的空间电子设备的可靠度R计算公式为:<img file="FDA0000485589550000013.GIF" wi="239" he="76" />λ<sub>O</sub>是对应恒定工作环境温度T<sub>O</sub>的工作失效率,t是工作时间;三角波型工作环境温度下的空间电子设备的可靠度R计算公式为:<img file="FDA0000485589550000011.GIF" wi="354" he="156" />λ<sub>i</sub>是对应工作环境温度T<sub>i</sub>=T<sub>L</sub>+n·ΔT的工作失效率,n为步阶数,n=1,2,…,(T<sub>U</sub>-T<sub>L</sub>)/ΔT;ΔT是步阶温度,取ΔT=5℃;当n=1时,T<sub>1</sub>=T<sub>L</sub>+5℃;当n=2时,T<sub>2</sub>=T<sub>L</sub>+10℃;…;当n=(T<sub>U</sub>-T<sub>L</sub>)/ΔT时,T<sub>n</sub>=T<sub>U</sub>;t是工作时间;T<sub>U</sub>、T<sub>L</sub>分别是上限工作环境温度、下限工作环境温度,t<sub>c</sub>是工作环境温度变化一个周期的时间;组合型工作环境温度是恒定型和三角波型的组合,该空间电子设备的可靠度R计算公式为:<img file="FDA0000485589550000012.GIF" wi="616" he="166" />λ<sub>O</sub>是对应恒定工作环境温度T<sub>L</sub>的工作失效率,λ<sub>i</sub>是对应工作环境温度T<sub>i</sub>=T<sub>L</sub>+n·ΔT的工作失效率,n为步阶数,n=1,2,…,(T<sub>U</sub>-T<sub>L</sub>)/ΔT;t<sub>c</sub>是工作环境温度变化一个周期的时间(t<sub>0</sub>+t<sub>c</sub>)中变化工作环境温度的时间,T<sub>L</sub>是恒定工作环境温度并且代表了下限工作环境温度,T<sub>U</sub>是上限工作环境温度,t<sub>0</sub>是工作环境温度变化一个周期的时间(t<sub>0</sub>+t<sub>c</sub>)中的恒定工作环境温度的时间,ΔT是步阶温度,取ΔT=5℃;当n=1时,T<sub>1</sub>=T<sub>L</sub>+5℃;当n=2时,T<sub>2</sub>=T<sub>L</sub>+10℃;…;当n=(T<sub>U</sub>-T<sub>L</sub>)/ΔT时,T<sub>n</sub>=T<sub>U</sub>;t是工作时间。
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