发明名称 | 基于散斑相关度的OCT图像分析方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种基于散斑相关度的OCT图像分析方法,首先,获取同一成像对象在不同波长段的相对应的若干幅OCT图像;或者采用同一光源获得同一成像对象在不同角度的相对应的若干幅OCT图像;对上述不同的OCT图像,在每幅OCT图像中的同一位置分别取相同尺寸的处理窗口;然后,计算处理窗口内像素强度并通过相关函数的计算进行相关性分析;同步移动处理窗口,直至遍历整个OCT的图像;根据若干幅OCT图像中各个部分相关度的分析,重建散斑分析后的图像,获取成像对象的微结构信息。在早期的疾病诊断,需要分别分辨细胞内精细结构的变化如亚微米量级,采用本发明的OCT图像分析方法可提取亚微米量级的细胞层次的变化。 | ||
申请公布号 | CN102835947B | 申请公布日期 | 2014.06.25 |
申请号 | CN201210324661.0 | 申请日期 | 2012.09.04 |
申请人 | 上海师范大学 | 发明人 | 王笑梅 |
分类号 | A61B5/00(2006.01)I | 主分类号 | A61B5/00(2006.01)I |
代理机构 | 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 31227 | 代理人 | 吴泽群 |
主权项 | 一种基于散斑相关度的OCT图像分析方法,其特征在于:所述OCT图像分析方法包括以下步骤:A.在同一位置获取同一成像对象在不同波长段的相对应的若干幅OCT图像;或者采用同一光源获得同一成像对象在不同角度的相对应的若干幅OCT图像;B.对上述不同的OCT图像,在每幅OCT图像中的同一位置分别取相同尺寸的处理窗口;C.计算处理窗口内像素强度并通过相关函数的计算进行相关性分析;D.同步移动处理窗口,重复步骤C,直至遍历整个OCT图像;E.根据若干幅OCT图像中各个部分相关度的分析,重建散斑分析后的图像,获取成像对象的微结构信息。 | ||
地址 | 200234 上海市徐汇区桂林路100号 |