发明名称 | 校准用于测定总有机碳含量的设备的方法 | ||
摘要 | 本发明涉及对通过测量电阻率来测定水溶液中总有机碳(TOC)含量的设备进行校准方法,当存在参比TOC分析仪的情况下包括如下步骤,:(a)使用所述设备和所述分析仪在超纯水上进行测量从而产生一个校准点,(b)使用所述设备和所述分析仪产生多个校准点,每个校准点对应具有给定含量可光氧化化合物的溶液的一个电阻率测量值,从而建立由所述设备和所述分析仪所测量数值之间的相关性;以及(c)基于上述步骤执行获得的测量值,由至少一种算法校准所述设备。 | ||
申请公布号 | CN102042999B | 申请公布日期 | 2014.06.25 |
申请号 | CN201010546122.2 | 申请日期 | 2010.10.09 |
申请人 | EMD密理博公司 | 发明人 | P·拉贾戈帕兰;C·勒尼尼温格里帕;A·范海赫 |
分类号 | G01N27/06(2006.01)I | 主分类号 | G01N27/06(2006.01)I |
代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人 | 过晓东 |
主权项 | 校准至少一个测量水溶液总有机碳(TOC)含量的设备的方法,包括将该水溶液中含有的碳氧化为二氧化碳后,在给定温度测量所述水溶液的电阻率,所述方法存在参比TOC分析仪的情况下包括至少如下一系列步骤:(a)通过使用TOC测量设备和参比TOC分析仪测量水溶液的电阻率产生一个校准点,TOC当量为0的情况下电阻率具有等于18.2MΩ.cm的设定值,(b)产生多个校准点,每个校准点对应于具有给定含量可光氧化化合物的水溶液中可光氧化化合物溶液的电阻率的一个测量值,所述可光氧化化合物溶液已被氧化,电阻率测量由TOC测量设备和参比TOC分析仪执行,这些校准点能建立TOC测量设备所测量的电阻率值与参比TOC分析仪测定的这些值之间的相关性;以及(c)为了校准,基于前述步骤所执行的测量由至少一种算法修正TOC测量设备,该算法执行参比TOC分析仪的电阻率测量值和TOC测量设备的该测量值之间的比较,随后对于每个给定的TOC值使用至少一个算法,该算法恢复TOC测量设备的电阻率值作为参比TOC分析仪给出的参比电阻率值的函数。 | ||
地址 | 美国马萨诸塞州 |