| 发明名称 | 嵌入式存储器测试系统 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种嵌入式存储器测试系统。本发明涉及一种用于测试嵌入式存储器的可编程内建自测试pBIST系统，其中将需要不同测试条件的多个存储器并入于SOC中。存储测试设置数据的pBIST只读存储器经组织以消除针对类似嵌入式存储器的测试设置数据的多个实例。 | ||
| 申请公布号 | CN103871478A | 申请公布日期 | 2014.06.18 |
| 申请号 | CN201310665285.6 | 申请日期 | 2013.12.10 |
| 申请人 | 德州仪器公司 | 发明人 | 拉古拉姆·达莫达兰;纳韦恩·布霍里亚;阿曼·科克拉迪 |
| 分类号 | G11C29/12(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/12(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人 | 林斯凯 |
| 主权项 | 一种嵌入式存储器测试系统，其包括：可编程内建自测试pBIST引擎；多个嵌入式随机存取存储器；只读存储器。 | ||
| 地址 | 美国德克萨斯州 | ||