发明名称 路面试样构造深度检测台及检测方法
摘要 本发明公开了一种路面试样构造深度检测台及检测方法,其中方法主要是:将待测试样摆放在试样摆放平台上,通过中控机控制直流电机启动,竖直轨道在直流电机的驱动下带动横向杆上下移动;通过摇杆控制检测试样摆放平台进行移动,从而使激光传感器对试样的表面纹理数据进行全面采集并将数据传输至单片机,单片机通过网口将数据发送至上位机进行存储及分析处理。本发明利用激光传感器来测量路面试样的构造深度,操作简单,灵活方便,能够提高测量精度和效率。
申请公布号 CN103868468A 申请公布日期 2014.06.18
申请号 CN201410112128.7 申请日期 2014.03.25
申请人 武汉工程大学 发明人 汪恩军;王维锋;吴剑波;雷进宇;袁润
分类号 G01B11/22(2006.01)I 主分类号 G01B11/22(2006.01)I
代理机构 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 代理人 许美红;唐万荣
主权项 一种路面试样构造深度检测台,其特征在于,包括检测平台(9),该检测平台上放置检测试样摆放平台(1);该检测平台上设有竖直方向的固定杆(7),该固定杆(7)上设有直流电机(6)和与该固定杆平行的竖直轨道(8),所述竖直轨道(8)连接横向杆(2),该横向杆(2)的下方固定激光传感器(5),该激光传感器(5)置于所述检测试样摆放平台(1)上方,该激光传感器(5)与单片机连接,该单片机通过网口与上位机连接;该横向杆上方设有水平仪(4);该检测台还设有中控机(3),控制直流电机的开启,所述竖直轨道(8)在直流电机的驱动下带动横向杆(2)上下移动;该中控机(3)上还设有摇杆,该摇杆控制检测试样摆放平台(1)的移动。
地址 430074 湖北省武汉市洪山区雄楚大街693号