发明名称 | 一种遮挡参数标定的方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种遮挡参数标定的方法,该方法首先获取未设置遮挡装置时标准测试卡片的原始卡片成像,然后将遮挡装置设置成像光路中,获取标准测试卡片在图像传感器上的遮挡卡片成像,最后根据原始卡片成像与遮挡卡片成像得到遮挡装置遮挡有效过渡区域的分布范围和过渡区域内不同位置标准卡片成像的相位偏移量与过渡区域内位置的关系。本发明解决了成像装置由于安装精度的问题,无法通过理论计算来精确的计算出遮挡装置有效过渡区域的分布范围以及在过渡区域内不同位置成像相位变化特征不同的问题,为通过增加遮挡装置来实现图像附加深度相关信息的检测提供了基础。 | ||
申请公布号 | CN103856772A | 申请公布日期 | 2014.06.11 |
申请号 | CN201210508681.3 | 申请日期 | 2012.12.03 |
申请人 | 北京大学;方正国际软件(北京)有限公司 | 发明人 | 王建华;李平立;袁梦尤;薛涛 |
分类号 | H04N17/00(2006.01)I | 主分类号 | H04N17/00(2006.01)I |
代理机构 | 北京天悦专利代理事务所(普通合伙) 11311 | 代理人 | 田明;任晓航 |
主权项 | 一种遮挡参数标定的方法,包括以下步骤:(1)将标准测试卡片作为被拍摄物体,获取标准测试卡片在图像传感器上的原始卡片成像;(2)将遮挡装置设置成像光路中,获取标准测试卡片在图像传感器上的遮挡卡片成像;所述的遮挡装置包括遮挡部分和透光部分;(3)根据遮挡卡片成像得到遮挡装置遮挡有效过渡区域的分布范围;(4)根据原始卡片成像与遮挡卡片成像得到有效过渡区域内成像相位偏移量与过渡区域内位置之间的关系。 | ||
地址 | 100871 北京市海淀区颐和园路5号 |