发明名称 一种用于晶片加工的装置
摘要 本发明公开了一种用于晶片加工的装置,包含加热板、安装在加热板上部的腔室,以及安装在腔室底端的导向环,该腔室充有等离子体,刻蚀时,晶片放置在加热板上,导向环内壁开设有导向口,该导向口对应在晶片边缘位置的上方,等离子体可以通过导向口吹向晶片的边缘。导向口设为弧形或为三角状或为阶梯状,该装置能够提高晶片定位的范围,改善晶片刻蚀的均匀度。
申请公布号 CN103839744A 申请公布日期 2014.06.04
申请号 CN201210470952.0 申请日期 2012.11.20
申请人 上海华虹宏力半导体制造有限公司 发明人 蔡辉
分类号 H01J37/32(2006.01)I 主分类号 H01J37/32(2006.01)I
代理机构 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 代理人 张静洁;徐雯琼
主权项 一种用于晶片加工的装置,包含加热板(1)、安装在加热板(1)上部的腔室(2),以及安装在腔室(2)底端的导向环(3),该腔室(2)充有等离子体(5),刻蚀时,晶片(4)放置在加热板(1)上,其特征在于,所述的导向环(3)内壁开设有导向口(31),该导向口(31)对应在晶片(4)边缘位置的上方,等离子体(5)可以通过导向口吹向晶片(4)的边缘。
地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号