发明名称 |
一种用于晶片加工的装置 |
摘要 |
本发明公开了一种用于晶片加工的装置,包含加热板、安装在加热板上部的腔室,以及安装在腔室底端的导向环,该腔室充有等离子体,刻蚀时,晶片放置在加热板上,导向环内壁开设有导向口,该导向口对应在晶片边缘位置的上方,等离子体可以通过导向口吹向晶片的边缘。导向口设为弧形或为三角状或为阶梯状,该装置能够提高晶片定位的范围,改善晶片刻蚀的均匀度。 |
申请公布号 |
CN103839744A |
申请公布日期 |
2014.06.04 |
申请号 |
CN201210470952.0 |
申请日期 |
2012.11.20 |
申请人 |
上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
发明人 |
蔡辉 |
分类号 |
H01J37/32(2006.01)I |
主分类号 |
H01J37/32(2006.01)I |
代理机构 |
上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 |
代理人 |
张静洁;徐雯琼 |
主权项 |
一种用于晶片加工的装置,包含加热板(1)、安装在加热板(1)上部的腔室(2),以及安装在腔室(2)底端的导向环(3),该腔室(2)充有等离子体(5),刻蚀时,晶片(4)放置在加热板(1)上,其特征在于,所述的导向环(3)内壁开设有导向口(31),该导向口(31)对应在晶片(4)边缘位置的上方,等离子体(5)可以通过导向口吹向晶片(4)的边缘。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号 |