发明名称 低压自校准CMOS峰值检测器
摘要 本发明涉及低压自校准峰值检测器(100)。使用两步校准处理,其补偿由相应的第一、第二和第三比较器(122、128、130)引入的偏移误差,峰值检测可以准确的进行,无论温度、处理或不匹配范围如何。它的输入带宽可以和单位增益的运算放大器的带宽一样高。在轨到轨配置中,它可以实现为全差分低压自校准CMOS峰值检测器(200),其能具有很高的转换增益(α)和很高的输入信号动态范围。
申请公布号 CN102187575B 申请公布日期 2014.06.04
申请号 CN200980140886.7 申请日期 2009.10.07
申请人 NXP股份有限公司 发明人 杰恩-罗伯特·图瑞特
分类号 H03K5/1532(2006.01)I;G01R19/04(2006.01)I 主分类号 H03K5/1532(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 王波波
主权项 一种电路装置(100),包含:‑具有第一输入端(+)和第二输入端(‑)的第一比较器(122),当所述第一和第二输入端(+、‑)短路时,所述第一比较器具有第一输入偏移电压(V'off1);‑具有第三输入端(+)和第四输入端(‑)的第二比较器(128),当所述第三和第四输入端(+、‑)短路时,所述第二比较器具有第二输入偏移电压(V'off2);‑具有第五输入端(+)和第六输入端(‑)的第三比较器(130),当所述第五和第六输入端(+、‑)短路时,所述第三比较器具有第三输入偏移电压(V'off3);其中,‑所述第三比较器(130)被配置在第一状态(I'),用于补偿所述第一和第二输入偏移电压(V'off1,V'off2)和使由所述第三输入偏移电压(V'off3)所产生的偏移误差最小;和‑所述第二比较器(128)被配置在第二状态(II'),用于基于第一状态(I')补偿第一输入偏移电压(V'off1),所述第二状态(II')跟随在所述第一状态(I')之后;‑所述第一、第二和第三比较器(122、128、130)的每一个具有一起耦合到节点(J')的输出;其中在所述第一状态(I')期间:‑所述第一比较器(122)配置为在开环方式下工作,并且所述第一和第二输入端(+、‑)短路且由参考电压(V'ref)供电;‑所述第二比较器(128)配置为在开环方式下工作,并且所述第三和第四输入端(+、‑)短路且由所述参考电压(V'ref)供电;‑所述第三比较器(130)配置为在闭环方式下工作,且比较由所述参考电压供电的所述第五输入端(+)和耦合到节点(J')的第六输入端(‑);其中在所述第二状态(II')期间:‑所述第一比较器(122)配置为在开环方式下工作,并且所述第一和第二输入端(+、‑)短路且由所述参考电压(V'ref)供电;‑所述第二比较器(128)配置为在闭环方式下工作,且比较由所述参考电压(V'ref)供电的所述第三输入端(+)和由电源电压(Vdd)经过开关元件(126)供电的第四输入端(‑);‑所述第三比较器(130)配置为在开环方式下工作,且比较由所述参考电压(V'ref)供电的所述第五输入端和由所述第一电压值(V'n3)供电的所述第六输入端(‑)。
地址 荷兰艾恩德霍芬