发明名称 一种多发光单元半导体激光器空间偏振测试装置
摘要 本实用新型提供一种多发光单元半导体激光器空间偏振测试装置,包括依次设置的多发光单元半导体激光器、快慢轴准直透镜组件、具有放大作用的显微物镜、位置可调的孔径光阑、以及偏振分束棱镜,透过孔径光阑的光经偏振分束棱镜,分为TE偏振光和TM偏振光,在形成的透射光路和反射光路上分别设置有光功率探测器。本实用新型能够测量多发光单元半导体激光器的空间偏振信息,进而实现定量评价半导体激光器封装所所产生的应力,从而改善封装工艺。
申请公布号 CN203629789U 申请公布日期 2014.06.04
申请号 CN201320660825.7 申请日期 2013.10.24
申请人 西安炬光科技有限公司 发明人 王贞福;刘兴胜
分类号 G01M11/02(2006.01)I;G01L1/24(2006.01)I 主分类号 G01M11/02(2006.01)I
代理机构 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人 胡乐
主权项 一种多发光单元半导体激光器空间偏振测试装置,包括依次设置的多发光单元半导体激光器、快慢轴准直透镜组件、具有放大作用的显微物镜、位置可调的孔径光阑、以及偏振分束棱镜,透过孔径光阑的光经偏振分束棱镜,分为TE偏振光和TM偏振光,在形成的透射光路和反射光路上分别设置有光功率探测器。
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