发明名称 |
一种多发光单元半导体激光器空间偏振测试装置 |
摘要 |
本实用新型提供一种多发光单元半导体激光器空间偏振测试装置,包括依次设置的多发光单元半导体激光器、快慢轴准直透镜组件、具有放大作用的显微物镜、位置可调的孔径光阑、以及偏振分束棱镜,透过孔径光阑的光经偏振分束棱镜,分为TE偏振光和TM偏振光,在形成的透射光路和反射光路上分别设置有光功率探测器。本实用新型能够测量多发光单元半导体激光器的空间偏振信息,进而实现定量评价半导体激光器封装所所产生的应力,从而改善封装工艺。 |
申请公布号 |
CN203629789U |
申请公布日期 |
2014.06.04 |
申请号 |
CN201320660825.7 |
申请日期 |
2013.10.24 |
申请人 |
西安炬光科技有限公司 |
发明人 |
王贞福;刘兴胜 |
分类号 |
G01M11/02(2006.01)I;G01L1/24(2006.01)I |
主分类号 |
G01M11/02(2006.01)I |
代理机构 |
西安智邦专利商标代理有限公司 61211 |
代理人 |
胡乐 |
主权项 |
一种多发光单元半导体激光器空间偏振测试装置,包括依次设置的多发光单元半导体激光器、快慢轴准直透镜组件、具有放大作用的显微物镜、位置可调的孔径光阑、以及偏振分束棱镜,透过孔径光阑的光经偏振分束棱镜,分为TE偏振光和TM偏振光,在形成的透射光路和反射光路上分别设置有光功率探测器。 |
地址 |
710119 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号10号楼三层 |