发明名称 MICRÓTOMO COM SENSOR DE ORIENTAÇÃO DE SUPERFÍCIE PARA DETECTAR A ORIENTAÇÃO DA SUPERFÍCIE DE AMOSTRA
摘要 MICRÓTOMO COM SENSOR DE ORIENTAÇÃO DE SUPERFÍCIE PARA DETECTAR A ORIENTAÇÃO DA SUPERFÍCIE DE AMOSTRA. A presente invenção refere-se a um dispositivo de seccionamento de amostra que inclui um mecanismo de corte, um prendedor de amostra, um sistema de acionamento e um sensor de orientação de superfície. O prendedor de amostra é operável para prender a amostra. O mecanismo de corte é operável para cortar seções da amostra. O sistema de acionamento está acoplado com o prendedor de amostra. O sistema de acionamento operável para acionar o movimento entre a amostra presa pelo prendedor de amostra e o mecanismo de corte. O sensor de orientação de superfície é operável para detectar uma orientação de uma superfície da amostra presa pelo prendedor de amostra.
申请公布号 BR102012006505(A2) 申请公布日期 2014.06.03
申请号 BR20121006505 申请日期 2012.03.22
申请人 SAKURA FINETEK U.S.A., INC. 发明人 HWAI-JYH MICHAEL YANG;XUAN S. BUI
分类号 G01N1/06;B26D7/01 主分类号 G01N1/06
代理机构 代理人
主权项
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