发明名称 |
MICRÓTOMO COM SENSOR DE ORIENTAÇÃO DE SUPERFÍCIE PARA DETECTAR A ORIENTAÇÃO DA SUPERFÍCIE DE AMOSTRA |
摘要 |
MICRÓTOMO COM SENSOR DE ORIENTAÇÃO DE SUPERFÍCIE PARA DETECTAR A ORIENTAÇÃO DA SUPERFÍCIE DE AMOSTRA. A presente invenção refere-se a um dispositivo de seccionamento de amostra que inclui um mecanismo de corte, um prendedor de amostra, um sistema de acionamento e um sensor de orientação de superfície. O prendedor de amostra é operável para prender a amostra. O mecanismo de corte é operável para cortar seções da amostra. O sistema de acionamento está acoplado com o prendedor de amostra. O sistema de acionamento operável para acionar o movimento entre a amostra presa pelo prendedor de amostra e o mecanismo de corte. O sensor de orientação de superfície é operável para detectar uma orientação de uma superfície da amostra presa pelo prendedor de amostra. |
申请公布号 |
BR102012006505(A2) |
申请公布日期 |
2014.06.03 |
申请号 |
BR20121006505 |
申请日期 |
2012.03.22 |
申请人 |
SAKURA FINETEK U.S.A., INC. |
发明人 |
HWAI-JYH MICHAEL YANG;XUAN S. BUI |
分类号 |
G01N1/06;B26D7/01 |
主分类号 |
G01N1/06 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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