发明名称 掩膜版及对其进行缺陷检测的方法
摘要 本发明公开了一种掩膜版及对其进行缺陷检测的方法。所述掩膜版的图案区和密封框架之间设置有多个缺陷判定图案,从而在检测过程中,检测单元能够根据缺陷判定图案来自动选择和衡量所需要的点,这样就不需要技术人员手动操作,进而避免了人工操作可能带来的影响,同时采用本发明提供的掩膜版能够节省时间和人力,从而大大的提高工作效率和生产效率。
申请公布号 CN103823329A 申请公布日期 2014.05.28
申请号 CN201210465858.6 申请日期 2012.11.16
申请人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 发明人 凌文君
分类号 G03F1/44(2012.01)I;G03F1/64(2012.01)I;G03F1/36(2012.01)I 主分类号 G03F1/44(2012.01)I
代理机构 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人 屈蘅;李时云
主权项 一种掩膜版,其特征在于,包括:图案区和密封框架,所述密封框架包围图案区,在所述密封框架和图案区之间具有多个缺陷判定图案。
地址 201203 上海市浦东新区张江路18号