发明名称 |
掩膜版及对其进行缺陷检测的方法 |
摘要 |
本发明公开了一种掩膜版及对其进行缺陷检测的方法。所述掩膜版的图案区和密封框架之间设置有多个缺陷判定图案,从而在检测过程中,检测单元能够根据缺陷判定图案来自动选择和衡量所需要的点,这样就不需要技术人员手动操作,进而避免了人工操作可能带来的影响,同时采用本发明提供的掩膜版能够节省时间和人力,从而大大的提高工作效率和生产效率。 |
申请公布号 |
CN103823329A |
申请公布日期 |
2014.05.28 |
申请号 |
CN201210465858.6 |
申请日期 |
2012.11.16 |
申请人 |
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
发明人 |
凌文君 |
分类号 |
G03F1/44(2012.01)I;G03F1/64(2012.01)I;G03F1/36(2012.01)I |
主分类号 |
G03F1/44(2012.01)I |
代理机构 |
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 |
代理人 |
屈蘅;李时云 |
主权项 |
一种掩膜版,其特征在于,包括:图案区和密封框架,所述密封框架包围图案区,在所述密封框架和图案区之间具有多个缺陷判定图案。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江路18号 |