发明名称 Verfahren zur Auswertung von durch schmalbandige, kurzwellige, kohärente Laserstrahlung erzeugten Streubildern von Objektiven, insbesondere zur Verwendung in der XUV-Mikroskopie
摘要 Aufgabe war es, die durch schmalbandige, kurzwellige, kohärente Laserstrahlung entstehenden mikroskopischen Streubilder unter hochauflösender Detektion mit möglichst geringem zeitlichem und wirtschaftlichem Aufwand sowie unter hohem Durchsatz auszuwerten und eindeutig beurteilen zu können. Insbesondere soll für medizinische Zwecke, eine schnelle, aussagekräftige und gut handhabbare mikroskopische Untersuchungsmöglichkeit, beispielsweise für klinische Routine- und Vorsorgeuntersuchungen, geschaffen werden. Erfindungsgemäß wird das vom Objekt entstehende sowie ortsaufgelöst detektierte Mikroskopie-Streubild jeweils ohne erforderliche Rekonstruktion des Objektes mit Referenzdaten verglichen und anhand dieser in seiner Strahlungscharakteristik klassifizierbar bewertet.
申请公布号 DE102012022966(A1) 申请公布日期 2014.05.22
申请号 DE20121022966 申请日期 2012.11.21
申请人 FRIEDRICH-SCHILLER-UNIVERSITÄT JENA 发明人 SPIELMANN, CHRISTIAN;ZÜRCH, MICHAEL
分类号 G01N21/33;G01B11/24;G01N21/39;G01N23/20;G02B21/00 主分类号 G01N21/33
代理机构 代理人
主权项
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