高功率半导体激光器测试系统

摘要

高功率半导体激光器测试系统属于高功率半导体激光器测试装置领域，该系统包括噪声检测单元、单色仪、光功率计、LD驱动电源、制冷器、控制单元、制冷器驱动单元、RS232、PC机、温度控制器和温度采集单元；噪声检测单元、单色仪、光功率计、LD驱动电源、制冷器分别与高功率半导体激光器相连，控制单元分别与噪声检测单元、单色仪、光功率计、LD驱动电源、制冷器、RS232、制冷器驱动单元相连，制冷器驱动单元与制冷器相连，PC机分别与RS232、温度控制器相连，温度采集单元分别与高功率半导体激光器、温度控制器相连。本实用新型的测试系统由于采用温度控制器，所以能够在激光器工作时温度变化的情况下，实时准确测出激光器的噪声、光谱、光功率等性能指标。

主权项

高功率半导体激光器测试系统，包括噪声检测单元、单色仪、光功率计、LD驱动电源、制冷器、控制单元、制冷器驱动单元、RS232、PC机、温度控制器和温度采集单元，其特征在于，所述噪声检测单元、单色仪、光功率计、LD驱动电源、制冷器分别与高功率半导体激光器相连，所述控制单元分别与噪声检测单元、单色仪、光功率计、LD驱动电源、制冷器、RS232、制冷器驱动单元相连，所述制冷器驱动单元与制冷器相连，所述PC机分别与RS232、温度控制器相连，所述温度采集单元分别与高功率半导体激光器、温度控制器相连。