一种DEH的点检仪系统及检测方法

摘要

本发明公开了一种DEH的点检仪系统，包括控制MCU芯片、源MCU芯片、信号发生器、校准接口、D/A电路、A/D电路、AT组态、放大电路、上位机以及用于提供电能的电源，上位机与控制MCU芯片相连接，控制MCU芯片通过D/A电路、放大电路及校准接口与待测模块相连接，控制MCU芯片与源MCU芯片相连接，源MCU芯片通过信号发生器与待测模块相连接，待测模块通过控制MCU芯片与AT组态和上位机相连接；本发明还提供了一种DEH的检测方法。本发明可以有效的完成对DEH模块的各项性能进行检测，结构简单。

主权项

一种DEH的点检仪系统，其特征在于，包括控制MCU芯片(2)、源MCU芯片(6)、信号发生器(7)、校准接口(3)、D/A电路、A/D电路、AT组态(5)、放大电路、上位机(1)以及用于提供电能的电源，上位机(1)的输出端与控制MCU芯片(2)的输入端相连接，控制MCU芯片(2)的电压输出端及电流输出端依次经D/A电路、放大电路及校准接口(3)后分别与待测模块(4)的电压输入端及电流输入端相连接，待测模块(4)的电压输出端及电流输出端通过A/D电路分别与控制MCU芯片(2)的电压输入端及电流输入端相连接，控制MCU芯片(2)的电压输出端与电流输出端与AT组态(5)的输入端相连接，AT组态(5)的输出端与上位机(1)的输入端相连接，控制MCU芯片(2)的第一开关控制端与待测模块(4)的控制端相连接，控制MCU芯片(2)的第二开关控制端与源MCU芯片(6)的控制端相连接，源MCU芯片(6)的输出端与信号发生器(7)的控制端相连接，信号发生器(7)的输出端与待测模块(4)的信号输入端相连接，待测模块(4)的信号输出端与源MCU芯片(6)的信号输入端相连接，源MCU芯片(6)的数据输出端通过控制MCU芯片(2)与上位机(1)的输入端相连接。