Bestimmung der Ausrichtung eines optoelektronischen Sensors

摘要

Verfahren zum Bestimmen der Ausrichtung eines an einem Gegenstand (11) angebrachten optoelektronischen Sensors (13), der zur Erfassung der Umgebung des Gegenstands (11) mit zumindest einem wiederholend ausgesandten Abtaststrahl (15) in wenigstens einer Abtastebene einen vorgegebenen Winkelbereich überstreicht, wobei zur Bestimmung der Sensorausrichtung–die Lage der Abtastebene relativ zu dem Gegenstand (11) ermittelt wird, indem der Gegenstand (11) entlang einer vorgegebenen Prüfbahn (17) an zumindest einer Prüffläche (19) vorbei bewegt und–bei für die gesamte Prüfbahn (17) bekannter Position und/oder Ausrichtung des Gegenstands (11) relativ zur Prüffläche (19) die Lage und/oder die Orientierung der von den Abtaststrahlflecken auf der Prüffläche (19) gebildeten Abtastlinie bestimmt wird.