一种FPGA质量诊断测试系统

摘要

一种FPGA质量诊断测试系统，包括硬件电路和FPGA软件逻辑，硬件电路包括测试FPGA、被测试FPGA、PROM、SRAM、电源及配置电路、被测试FPGA温度获取电路、FPGA间IO接口电路、RS232接口电路以及SMA输出测试电路。本发明克服现有技术对FPGA内部资源测试覆盖率低的不足，实时性好，通用性强，操作简单，满足航天相机视频电子系统测试过程中对FPGA芯片的要求。

主权项

一种FPGA质量诊断测试系统，其特征在于包括：测试FPGA、被测试FPGA、PROM、SRAM、电源及配置电路、被测试FPGA温度获取电路、FPGA间IO接口电路、第一RS232接口电路、第二RS232接口电路及SMA输出测试电路；PROM用于存储测试FPGA配置数据、被测试FPGA配置数据和用于回读功能验证的比对数据、掩码数据；SRAM用于在线存储被测试FPGA配置数据、比对数据和掩码数据；系统加电后，测试FPGA完成配置后，从PROM中读取被测试FPGA配置数据、比对数据及掩码数据，并转存到外部SRAM中，用于被测试FPGA配置与回读功能验证；电源及配置电路为测试FPGA提供正常工作所需要的电源和配置芯片；温度获取电路用于提取被测试FPGA工作温度；IO接口电路实现测试FPGA与被测试FPGA通信；SMA输出测试电路用于验证被测试FPGA全局时钟网络验证，IO输出电平类型及驱动能力测试；PC机通过第一RS232接口与测试FPGA通信，以获取测试FPGA工作状态；测试FPGA通过第二RS232接口与被测试FPGA通信，获取被测试FPGA工作状态；测试FPGA根据上位机来的RS232控制指令通过SelectMAP并行接口进行被测试FPGA配置与回读功能验证；完成被测试FPGA实现DSP48s乘法器单元功能测试；完成被测试FPGA寄存器级联测试；完成被测试FPGA内部BRAM功能验证；通过温度测试电路获取被测试FPGA工作温度；被测试FPGA根据测试FPGA来的RS232控制指令，完成所有内部DSP48s乘法器单元功能测试，并向测试FPGA反馈测试结果；完成全局时钟网络功能验证；完成IO输出电平类型及驱动能力测试。