发明名称 |
一种激光器LIV低温性能的无损测试装置 |
摘要 |
本实用新型公开一种激光器LIV低温性能的无损测试装置,包括制冷箱、保温平台、致冷接触测试座、上盖以及若干个测试单元,该上盖转动设置在保温平台上,该保温平台与上盖之间形成容纳腔,该容纳腔通过由内置的致冷接触测试座而进行快速热量传导,每一测试单元均设置在容纳腔内,若干个测试单元共有同一个致冷接触测试座以及位于致冷接触测试座下方且与每一测试单元相对应的电路板,每一测试单元上形成有分别供激光器插置以及电源线插置的致冷接触插口和供电插口。与现有技术相比,本实用新型在对激光器进行低温性能测试时,可使激光器迅速致冷,且无需移动激光器,以保证激光器在低温环境下被测试,且测试完毕后激光器在外观上不会受到任何损伤。 |
申请公布号 |
CN203595764U |
申请公布日期 |
2014.05.14 |
申请号 |
CN201320771527.5 |
申请日期 |
2013.11.29 |
申请人 |
厦门三优光电股份有限公司 |
发明人 |
饶华斌;庄坚;曾延华;邱名武 |
分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
代理机构 |
厦门市新华专利商标代理有限公司 35203 |
代理人 |
朱凌 |
主权项 |
一种激光器LIV低温性能的无损测试装置,其特征在于,包括制冷箱、保温平台、致冷接触测试座、上盖以及若干个测试单元,该上盖转动设置在保温平台上,该保温平台与上盖之间形成容纳腔,该容纳腔通过由内置的致冷接触测试座而进行快速热量传导,每一测试单元均设置在容纳腔内,若干个测试单元共有同一个致冷接触测试座以及位于致冷接触测试座下方且与每一测试单元相对应的电路板,每一测试单元上形成有分别供激光器插置以及电源线插置的致冷接触插口和供电插口。 |
地址 |
361000 福建省厦门市火炬高新区创业园伟业楼N505室 |