发明名称 利用数据产生器模块来提高存储设备读写测试效率的方法
摘要 一种利用数据产生器模块来提高存储设备读写测试效率的方法,其特征在于:预先在被测试的存储设备中设置一个数据产生器模块,当采用测试电脑对存储设备进行读写测试时,所有的读写测试数据不需要在测试电脑与存储设备之间传送,测试电脑只要向存储设备发送测试的写命令和测试的读命令,存储设备内部的数据产生器模块便可以按照写命令和读命令中的逻辑地址和数据模式代码产生对应数据,并进行相应的读写操作和比对。本发明减少了批量数据的传递时间,大大提高了数据的读写速度,特别是在批量化产生大容量存储设备时,极大的提高了存储设备产品的整体读写测试效率。
申请公布号 CN102522123B 申请公布日期 2014.05.07
申请号 CN201110400460.X 申请日期 2011.12.06
申请人 苏州国芯科技有限公司 发明人 郑茳;肖佐楠;匡启和;王廷平;薛毅
分类号 G11C29/56(2006.01)I 主分类号 G11C29/56(2006.01)I
代理机构 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人 马明渡
主权项 一种利用数据产生器模块来提高存储设备读写测试效率的方法,所述存储设备包括接口、控制器、临时存储器以及存储器,其特征在于:在所述存储设备中预先设置一个由软件或/和硬件构成的数据产生器模块,该数据产生器模块由一组具有不同数学模型的数据模式子模块组成,每种数据模式子模块均定义有一个唯一的数据模式代码,输入定义的数据模式代码将激活对应的数据模式子模块按自身数学模型产生相应的数据;在对存储设备进行读写测试时,先将被测试的存储设备通过所述接口与测试电脑进行连接,然后按以下步骤进行操作:第一步,测试电脑向存储设备发送测试的写命令,该写命令中包含写操作指令、写操作的逻辑地址以及写操作的数据模式代码,其中,对于存储器的每个扇区来说,写命令中的逻辑地址与数据模式代码存在一对一的对应关系;当控制器收到写命令后,根据写命令中逻辑地址与数据模式代码的对应关系依次将写操作的数据模式代码送入数据产生器模块产生对应的模拟用户写入数据,并将该模拟用户写入数据存放在临时存储器中,控制器再根据对应的写操作的逻辑地址计算出要写到的存储器的实际物理位置,然后将临时存储器中的模拟用户写入数据写到存储器的实际物理位置上,其中,每次写入存储器的模拟用户写入数据量为扇区的整数倍,直到将存储设备所有可用的容量写满为止;第二步,测试电脑向存储设备发送测试的读命令,该读命令中包含读操作指令、读操作的逻辑地址以及读操作的数据模式代码,其中,对于存储器的每个扇区来说,读命令中的逻辑地址与数据模式代码存在一对一的对应关系,而且对于同一个存储器的同一个扇区来说,写操作的数据模式代码与读操作的数据模式代码相同;当控制器收到读命令后,根据读命令中逻辑地址与数据模式代码的对应关系依次将读操作的数据模式代码送入数据产生器模块产生与模拟用户写入数据相同的测试对比数据,并将该测试对比数据存放在临时存储器中;接着,控制器再根据对应的读操作的逻辑地址计算出要读的存储器的实际物理位置,然后将存储在该位置的模拟用户写入数据读出到临时存储器中,与相同逻辑地址的测试对比数据进行比对,如果这两组数据的比对结果是完全相同,则进行下一轮次比对,每一轮次比对的数据量为扇区的整数倍,直到将写满存储设备所有可用容量的模拟用户写入数据读出后全部比对完,而且比对结果均完全相同,则结束测试,表示测试通过;如果在比对过程中只要出现有一个轮次的比对结果不一致,则退出测试,表示测试失败。
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