发明名称 一种发光二极管结构及其制造方法
摘要 本发明公开一种发光二极管结构,包括基板、外延层、第一电极和第二电极;外延层生长在基板上,依次包括遂穿层、p型限制层、有源层、n型限制层、晶向蚀刻层和欧姆接触层,第一电极形成在欧姆接触层上,第二电极形成在基板上。其制造方法是:在一基板上生长外延层;在欧姆接触层上蒸镀形成第一电极层;用蚀刻液去蚀刻欧姆接触层,用晶向蚀刻液去腐蚀晶向蚀刻层;减薄基板,并用热蒸发的方式在基板的表面形成第二电极。本发明通过化学溶液腐蚀带有晶向蚀刻的n型层,在发光表面形成规则的光学几何形状,大大降低了全反射造成出射光的损耗,提高了出光效率,试验证明亮度可提高80%。
申请公布号 CN102208508B 申请公布日期 2014.05.07
申请号 CN201010140053.5 申请日期 2010.03.30
申请人 厦门乾照光电股份有限公司 发明人 黄尊祥;杨凯;李涛;彭绍文;刘建鋆;王向武
分类号 H01L33/24(2010.01)I 主分类号 H01L33/24(2010.01)I
代理机构 厦门市新华专利商标代理有限公司 35203 代理人 李宁;唐绍烈
主权项 1.一种发光二极管的制造方法,其特征在于包括以下步骤:A、采用MOCVD或MBE在一基板上依次生长一遂穿层、一p型限制层、一有源层、一n型限制层、一晶向蚀刻层和一欧姆接触层构成外延层;B、用电子束蒸发设备、磁空溅射或化学沉积设备在欧姆接触层上蒸镀形成第一电极层;将清洗好的外延片放进烘箱烘烤10min,再将外延片旋转涂胶,胶的厚度在5-10微米之间,曝光强度在400-1000mJ/cm<sup>2</sup>,显影20-100s,用氮气吹干;选自AuGe做为欧姆接触,AuGe厚度为800-3000<img file="FSB0000118642600000011.GIF" wi="41" he="61" />,选自Ti作为阻挡层,厚度在100-2000<img file="FSB0000118642600000012.GIF" wi="33" he="61" />,选自Au作为打线层,厚度在1000-3000<img file="FSB0000118642600000013.GIF" wi="40" he="62" />;镀好的外延片放入光阻去除液中剥离,再经过200-1000℃高温下合金;C、用蚀刻液去蚀刻欧姆接触层,用晶向蚀刻液去腐蚀晶向蚀刻层,即用蚀刻液3H<sub>2</sub>O<sub>2</sub>:NH<sub>4</sub>OH去除欧姆接触层形成蚀刻后的欧姆接触层,用晶向蚀刻液7H<sub>3</sub>PO<sub>4</sub>:2H<sub>2</sub>O<sub>2</sub>,在20-150℃环境下静止60min,将GaAs层去除后放入晶向蚀刻液中静止300s,腐蚀晶向蚀刻层;D、用机械研磨的方法减薄基板,使芯片厚度薄至180±10微米,用强氧化性酸5H<sub>2</sub>SO<sub>4</sub>:H<sub>2</sub>O<sub>2</sub>:H<sub>2</sub>O清洗芯片表面的杂质,再用3NH<sub>4</sub>OH:H<sub>2</sub>O<sub>2</sub>对芯片表面进行抛光;用热蒸发的方式将AuGe镀在基板的表面形成第二电极,其厚度在200-2000<img file="FSB0000118642600000014.GIF" wi="35" he="64" />范围内,将芯片放入200-1000℃高温下合金。
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