发明名称 | 用于快速正演中子模型的地层表征 | ||
摘要 | 一种用于模拟中子测井仪器的响应的方法包括:在计算机中定义中子迁徙长度相对于期望的辐射探测器计数率的函数。所述函数针对地层孔隙度的选定值定义。所述函数与中子慢化长度和中子扩散长度有关。所述函数经地层密度加权。在计算机中,使用定义的函数基于地层孔隙度和密度的初始估算计算期望的辐射探测器计数率。 | ||
申请公布号 | CN103765247A | 申请公布日期 | 2014.04.30 |
申请号 | CN201280036556.5 | 申请日期 | 2012.05.23 |
申请人 | 普拉德研究及开发股份有限公司 | 发明人 | D·V·埃利斯;C·凯斯;J·M·基亚拉蒙特 |
分类号 | G01V5/10(2006.01)I | 主分类号 | G01V5/10(2006.01)I |
代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人 | 周家新;蔡洪贵 |
主权项 | 一种用于模拟中子测井仪器的响应的方法,包括:在计算机中定义中子迁徙长度相对于期望的辐射探测器计数率的函数,所述函数针对地层孔隙度的选定值定义,所述函数与中子慢化长度和中子扩散长度有关,所述函数经地层密度加权;以及在计算机中,使用定义的函数基于地层孔隙度和密度的初始估算计算期望的辐射探测器计数率。 | ||
地址 | 英属维尔京群岛多多拉岛 |