发明名称 | 馈通线圈组件、带有馈通线圈组件的测试装置和测试方法 | ||
摘要 | 一种用于应用在用于借助于涡流以馈通方法测试长形产品的测试装置中的馈通线圈组件(100)具有带有激励线圈(122)的激励线圈组件(其包围用于沿着馈通方向(192)引导长形产品(190)穿过的通过口(112))和围绕通过口布置的接收线圈组件。接收线圈组件具有分布在通过口(112)的周缘上的两个或更多个部段线圈组件(142-1至142-8),其中,每个部段线圈组件具有检测区域,其仅覆盖长形产品的表面的周缘的一周缘截段。部段线圈组件(142-1至142-8)以与馈通线圈组件的参考轴线(114)的不同的距离(A1,A2)分布在包围通过口的至少两个壳上(S1,S2)。在此,第一部段线圈组件(142-1至142-4)无相互重叠地布置在第一壳(S1)上并且第二部段线圈组件(142-5至142-8)无相互重叠地布置在第二壳(S2)上。第一和第二部段线圈组件在周向上彼此在周缘上错位地布置成使得第二部段线圈组件检测不被第一部段线圈组件覆盖的周缘截段。 | ||
申请公布号 | CN103765204A | 申请公布日期 | 2014.04.30 |
申请号 | CN201380001511.9 | 申请日期 | 2013.01.11 |
申请人 | 霍释特博士有限两合公司 | 发明人 | M.贝克;F.哈迪奇;S.科赫 |
分类号 | G01N27/90(2006.01)I | 主分类号 | G01N27/90(2006.01)I |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 陈浩然;何逵游 |
主权项 | 一种用于应用在用于借助于涡流以馈通方法测试长形产品的测试装置中的馈通线圈组件(100),其包括:带有激励线圈(122)的激励线圈组件,其包围用于沿着馈通方向(192)引导长形产品(190)穿过的通过口(112),其中,所述激励线圈组件具有用于所述激励线圈联接到交变电压源(130)处的联接装置;和围绕所述通过口布置的接收线圈组件,其具有用于所述接收线圈组件联接到所述测试装置的评估装置(150)处的联接装置(148),其中,所述接收线圈组件具有分布在所述通过口(112)的周缘上的两个或更多个部段线圈组件(142‑1至142‑8, 742‑1至742‑8),其中,每个部段线圈组件具有检测区域,其仅覆盖所述长形产品的表面的周缘的一周缘截段,其特征在于,所述部段线圈组件(142‑1至142‑8, 742‑1至742‑8)以与所述馈通线圈组件的参考轴线(114)的不同的距离(A1, A2)分布在包围所述通过口的至少两个壳上(S1, S2),其中,第一部段线圈组件(142‑1至142‑4, 742‑1至742‑4)无相互重叠地布置在第一壳(S1)上并且,第二部段线圈组件(142‑5至142‑8, 742‑5至742‑8)无相互重叠地布置在第二壳(S2)上,并且第一和第二部段线圈组件在周向上彼此在周缘上错位地布置成使得所述第二部段线圈组件检测不被所述第一部段线圈组件覆盖的周缘截段。 | ||
地址 | 德国里德林根 |