发明名称 |
Ni纳米线、NiO/Ni自支撑膜及其制备方法和应用 |
摘要 |
本发明公开了一种Ni纳米线、NiO/Ni自支撑膜及其制备方法和应用。所述Ni纳米线为平均长度50,000至200,000nm的超长纳米线;其制备方法为:首先配置Ni纳米线液相生长液;然后在外加磁场下制备Ni纳米线单质;最后分离纯化Ni纳米线。所述NiO/Ni自支撑膜包括所述Ni纳米线及其煅烧制得的表面为NiO的Ni纳米线;其制备方法为:首先将所述Ni纳米线分散在表面活性剂溶液中;然后抽滤将Ni纳米线转移到微孔滤膜上,制得Ni自支撑膜;最后将Ni自支撑膜含氧气氛下煅烧得到NiO/Ni自支撑膜。本发明提供的NiO/Ni自支撑膜,柔韧性和电化学性能良好,能作为超级电容活性材料,成本低,工艺简单。 |
申请公布号 |
CN103762356A |
申请公布日期 |
2014.04.30 |
申请号 |
CN201310740240.0 |
申请日期 |
2013.12.27 |
申请人 |
华中科技大学 |
发明人 |
高义华;刘逆霜;马文真;李建 |
分类号 |
H01M4/52(2010.01)I;C01G53/04(2006.01)I;B82Y30/00(2011.01)I;B82Y40/00(2011.01)I |
主分类号 |
H01M4/52(2010.01)I |
代理机构 |
华中科技大学专利中心 42201 |
代理人 |
朱仁玲 |
主权项 |
一种Ni纳米线,其特征在于,所述Ni纳米线平均直径在200nm至300nm之间,平均长度在50,000nm至200,000nm之间。 |
地址 |
430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号 |