六氟化硫电气设备故障的带电检测方法

摘要

本发明介绍了一种六氟化硫电气设备故障的带电检测方法，该方法为下述步骤：（1）、取聚四氟乙烯软管一根及滤膜备用；（2）、将滤膜封闭软管的一端；（3）、将软管另一端与外设待检测六氟化硫电气设备的输出口连接；（4）、待六氟化硫气体流过1～60^.min，除去滤膜；（5）、获得所除滤膜的元素分析结论或物相分析结论。获得相同材质滤膜的空白实验结果；（6）、利用滤出的固体颗粒中所含元素对六氟化硫电气设备的故障进行诊断并得出诊断结论。本方法可在六氟化硫气体湿度、纯度、分解产物测试过程中同步进行，属带电检测，可在不解体条件下诊断设备的故障及潜伏性故障，及时发现隐患，避免引发安全事故。

主权项

一种六氟化硫电气设备故障的带电检测方法，该方法为下述步骤：（1）、取管径≤￠5mm、管长为100～10000mm的聚四氟乙烯软管一根及与所述聚四氟乙烯软管管径大小匹配且滤孔直径≤￠30μm的滤膜备用，所述备用的滤膜为定量滤纸、金属纤维膜、石英玻璃纤维膜、聚丙烯滤膜、特氟龙滤膜、聚氯乙烯纤维膜、硝酸纤维素微孔膜、乙酸纤维素微孔膜、聚碳酸酯直孔滤膜中的一种；（2）、将步骤（1）所备滤膜固定封闭所备聚四氟乙烯软管的一端；（3）、将步骤（2）所获一端被封闭的聚四氟乙烯软管的未被封闭的另一端，与外设待检测六氟化硫电气设备的输出口连接，控制该外设待检测六氟化硫电气设备输出口输出之六氟化硫气体的流速在1～1000mlmin^‑1范围内；（4）、待步骤（3）中所述外设待检测六氟化硫电气设备输出口输出的六氟化硫气体从所述滤膜中流过的时间达到1～60min，除去滤膜；（5）、对步骤（4）所除滤膜实施原子吸收光谱法分析、原子发射光谱法分析、原子荧光光谱法分析、紫外‑可见光谱法分析、离子色谱法分析、电感耦合等离子体原子发射光谱法分析、电感耦合等离子体质谱法分析、X‑射线荧光光谱法分析、X射线能量色散谱法分析、X‑射线光电子能谱法分析、俄歇电子能谱法分析中的一种，获得该所除滤膜的元素分析结论；或对步骤（4）所除滤膜实施X‑射线衍射法物相分析，获得该所除滤膜的物相分析结论，同时，对步骤（1）所备与步骤（4）所除滤膜相同材质的滤膜实施空白实验，获得该相同材质滤膜的空白实验结果；（6）、对步骤（5）所获步骤（4）所除滤膜的元素分析结论或步骤（4）所除滤膜的物相分析结论，与步骤（5）所获相同材质滤膜的空白实验结果进行比较，获得上述步骤（4）所除滤膜所滤出的固体颗粒中所含铁、铝、铜、银、钨、镁、碳中的一种或多种元素，即为上述步骤（3）所述外设待检测六氟化硫电气设备的输出口输出的六氟化硫气体中滤出的固体颗粒中所含元素，然后利用该外设待检测六氟化硫电气设备的输出口输出的六氟化硫气体中滤出的固体颗粒中所含元素是来自所述外设待检测六氟化硫电气设备的部件中所包含的铁、铝、铜、银、钨、镁、碳的对应元素关系，对该外设待检测六氟化硫电气设备存在的故障进行诊断并得出诊断结论。