发明名称 |
一种测量透明物质折射率的方法 |
摘要 |
本发明提供了一种测量透明物质折射率的方法,包括以下步骤:(1)在装有待测透明物质的样品池底部放置大小可调的光源O,其中,样品池的底部为粗糙的散射面;(2)样品池底部的光源O向上发射光线,从样品池上方俯视,出现由两个圆形成的圆环暗区;(3)在上述圆环上取一段弦,该弦贯穿两个圆,最后通过该弦长计算透明物质的折射率;或者通过光阑调整光源的尺寸大小,使得暗环刚消失时,通过测量光阑的尺寸计算透明物质的折射率。本发明测量的折射率没有范围限制,可以实时动态的测量透明物质的折射率。 |
申请公布号 |
CN102621095B |
申请公布日期 |
2014.04.16 |
申请号 |
CN201210074465.2 |
申请日期 |
2012.03.20 |
申请人 |
陕西科技大学 |
发明人 |
罗道斌;刘建科;张鹏 |
分类号 |
G01N21/41(2006.01)I;G01N21/958(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/41(2006.01)I |
代理机构 |
西安通大专利代理有限责任公司 61200 |
代理人 |
田洲 |
主权项 |
1.一种测量透明物质折射率的方法,其特征在于:包括以下步骤:(1)在装有待测透明物质的样品池底部放置大小可调的光源O,其中,样品池的底部为粗糙的散射面;(2)样品池底部的光源O向上发射光线,从样品池上方俯视,出现由两个圆形成的圆环暗区;(3)光源的大小由圆形光阑控制,调节光阑使得光源O由点光源变成一个圆形面光源;随着光阑半径的逐渐增大,圆环暗区的区域将逐渐缩小,即暗环的外径减小,暗环的内径增大,当光阑的半径增大到某一值时,圆环暗区消失;透明物质的折射率n为:<maths num="0001"><![CDATA[<math><mrow><mi>n</mi><mo>=</mo><mfrac><mn>1</mn><mrow><mi>sin</mi><mo>{</mo><mi>arctan</mi><mrow><mo>(</mo><mfrac><mrow><mn>2</mn><mi>r</mi></mrow><mi>h</mi></mfrac><mo>)</mo></mrow><mo>}</mo></mrow></mfrac></mrow></math>]]></maths>其中,r为圆环暗区刚消失时光阑半径;h为透明物质的高度。 |
地址 |
710021 陕西省西安市未央区大学园1号 |